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一种流程智能工厂的风险分析方法

申请号: CN202410028085.8
申请人: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
申请日期: 2024/1/9

摘要文本

微信公众号马克 数据网 本发明公开了一种流程智能工厂的风险分析方法,包括以下步骤:S1:获取流程智能工厂的待分析工艺参数;S2:获取待分析工艺参数所匹配的引导词;S3:获取偏差导致的后果;获取导致偏差的直接原因;基于导致偏差的直接原因获取导致偏差的间接原因;S4:基于导致偏差的间接原因和偏差导致的后果获得偏差导致的初始风险;基于安全措施和初始风险获取偏差导致的残余风险;基于残余风险获得风险分析结果;S5:获取与待分析工艺参数匹配的下一个引导词,重复S3‑S4,直到待分析工艺参数的可匹配引导词全部分析完毕;S6 : 获取下一个待分析工艺参数,重复S2‑S5,直到所有待分析工艺参数分析完毕。本发明可以综合、全面、准确的分析流程智能工厂存在的风险。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种流程智能工厂的风险分析方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410028085.8
申请日 2024/1/9
公告号 CN117541067A
公开日 2024/2/9
IPC主分类号 G06Q10/0635
权利人 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
发明人 张鑫; 郭苗; 孟邹清; 朱旭营; 张亚彬
地址 北京市西城区广安门外大街甲397号

专利主权项内容

1.一种流程智能工厂的风险分析方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:获取流程智能工厂的待分析工艺参数;S2:获取待分析工艺参数所匹配的引导词;S3:获取偏差导致的后果;其中,待分析工艺参数和引导词构成所述偏差;获取导致偏差的直接原因;基于导致偏差的直接原因获取导致偏差的间接原因;S4:基于导致偏差的间接原因和偏差导致的后果获得偏差导致的初始风险;基于安全措施和初始风险获取偏差导致的残余风险;基于残余风险获得风险分析结果;S5:获取与待分析工艺参数匹配的下一个引导词,重复S3-S4,直到待分析工艺参数的可匹配引导词全部分析完毕;S6 : 获取下一个待分析工艺参数,重复S2-S5,直到所有待分析工艺参数分析完毕。