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一种多指标异常检测方法、装置、电子设备和存储介质
摘要文本
本发明涉及数据处理技术领域，具体公开了一种多指标异常检测方法、装置、电子设备和存储介质。其中，该方法包括：根据待检测的原始多指标时序数据的序列值缺失情况确定对应的数据缺失度量序列；根据预设异常检测网络模型确定原始多指标时序数据和数据缺失度量序列对应的多指标异常检测结果。本发明实施例能够有效利用数据缺失度量序列衡量原始多指标时序数据中序列值的缺失状况，使得预设异常检测网络模型可以学习到缺失模式，能够很好地适用于大规模数据缺失的多指标异常检测场景，提高了多指标异常检测的普适性和准确率。 马 克 数 据 网
申请人信息
- 申请人:成方金融科技有限公司
- 申请人地址:100032 北京市西城区德胜门外大街81号11层1101
- 发明人: 成方金融科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种多指标异常检测方法、装置、电子设备和存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410064719.5 |
| 申请日 | 2024/1/17 |
| 公告号 | CN117591983A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G06F18/2433 |
| 权利人 | 成方金融科技有限公司 |
| 发明人 | 黄超斌; 张照胜; 谭新培; 张悦 |
| 地址 | 北京市西城区金融街百盛大厦9层 |
专利主权项内容
1.一种多指标异常检测方法，其特征在于，所述方法包括：根据待检测的原始多指标时序数据的序列值缺失情况确定对应的数据缺失度量序列；根据预设异常检测网络模型确定所述原始多指标时序数据和所述数据缺失度量序列对应的多指标异常检测结果。