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基于薄圆盘模体的球管机械位置校正方法及系统
摘要文本
本发明涉及X射线成像领域，尤其是涉及CT领域。一种基于薄圆盘模体的球管机械位置校正方法，包括：获取薄圆盘模体在探测器上的投影数据，并根据投影数据，得到探测器上每个视角的投影边缘坐标；根据球管在初始机械位置发出的X射线经过薄圆盘模体边缘，投影到曲面的I点，得到I点的模拟值坐标；将I点的模拟值坐标，转换至探测器所在的坐标系中，得到I点的探测坐标；对I点的探测坐标，进行测量，得到I点的实际值坐标；利用模拟值坐标和实际值坐标的偏差，对球管的初始位置进行校正，得到相较于球管的目标机械位置的偏移量，并根据偏移量，调整初始机械位置。通过一次扫描薄圆盘模体，同时估算出球管z向机械位置和x向机械位置的误差。
申请人信息
- 申请人:赛诺威盛科技(北京)股份有限公司
- 申请人地址:100176 北京市大兴区经济技术开发区康定街11号8幢1层
- 发明人: 赛诺威盛科技(北京)股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于薄圆盘模体的球管机械位置校正方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410144471.3 |
| 申请日 | 2024/2/1 |
| 公告号 | CN117679060A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | A61B6/03 |
| 权利人 | 赛诺威盛科技(北京)股份有限公司 |
| 发明人 | 董辰辉 |
| 地址 | 北京市大兴区经济技术开发区康定街11号8幢1层 |
专利主权项内容
1.一种基于薄圆盘模体的球管机械位置校正方法，其特征在于，包括：获取所述薄圆盘模体在探测器上的投影数据，并根据所述投影数据，得到所述探测器上每个视角的投影边缘坐标；根据所述球管在初始机械位置发出的X射线经过所述薄圆盘模体边缘，投影到曲面的I点，得到所述I点的模拟值坐标，其中，所述曲面表示所述探测器所在圆柱上的曲面；将所述I点的模拟值坐标，转换至所述探测器所在的坐标系中，得到所述I点的探测坐标；对所述I点的探测坐标，进行测量，得到所述I点的实际值坐标；利用所述模拟值坐标和所述实际值坐标的偏差，对所述球管的所述初始位置进行校正，得到相较于所述球管的目标机械位置的偏移量，并根据所述偏移量，调整所述初始机械位置，其中，所述偏移量表示，在坐标系中，所述初始机械位置，在z向机械位置和x向机械位置的偏差。