点目标红外辐射测量方法
摘要文本
本发明涉及点目标红外辐射测量技术领域，尤其涉及一种点目标红外辐射测量方法。包括：S1：利用中长波红外成像系统对远距离的点目标进行红外成像，分别获得中波红外图像和长波红外图像；S2：对中波红外图像和长波红外图像进行处理，获得中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式；S3：对中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式进行比值处理；S4：根据普朗克公式计算点目标的温度和红外辐射亮度。本发明能够在点目标的面积未知的情况下，对点目标的红外辐射亮度和温度进行有效测量，从而提高了红外辐射测量技术在靶场的适用性。
申请人信息
- 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址:130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 发明人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 点目标红外辐射测量方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410171445.X |
| 申请日 | 2024/2/7 |
| 公告号 | CN117723157A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G01J5/48 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 发明人 | 杨国庆; 余毅; 孙志远; 李周; 李云龙; 庞鑫宇; 张涛 |
| 地址 | 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号 |
专利主权项内容
1.一种点目标红外辐射测量方法，利用标定过的中长波红外成像系统实现，其特征在于，具体包括如下步骤：S1：利用所述中长波红外成像系统对远距离的点目标进行红外成像，分别获得中波红外图像和长波红外图像；S2：对所述中波红外图像和所述长波红外图像进行灰度提取，获得中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式：
(1)；
(2)；其中，为所述点目标的红外辐射亮度，()为所述点目标的周围环境的红外辐射亮度，与分别为对所述中长波红外成像系统进行定标的增益系数和偏置系数，/>与分别为测量路径的大气透过率与程辐射，ε为点目标在成像波段的平均发射率，为所述点目标的总灰度，为所述中长波红外成像系统的探测器的像元面积，为所述点目标与所述中长波红外成像系统的距离，为所述点目标在观测方向的投影面积，为所述中长波红外成像系统的焦距，下标m为中波，下标/>为长波；LTbRBLpathGtAdSAfS3：对式(1)-式(2)进行比值处理，获得下式：
(3)；S4：根据普朗克公式，并结合式(3)通过下式计算所述点目标的温度和红外辐射亮度：
(4)；
(5)；其中，[，]为所述中长波红外成像系统的探测器响应波段范围，为所述点目标的温度，c为第一辐射常数，c＝(3.7415±0.0003)×10(W·m·μm)，c为第二辐射常数，c＝(1.4388±0.0002)×10(μm·K)。λ1λ2Tt118-24224