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抛光磨头、抛光与原位检测装置及抛光加工方法
摘要文本
本发明涉及光学元件加工技术领域,具体涉及一种抛光磨头、抛光与原位检测装置及抛光加工方法;抛光磨头包括装卡装置、弹性支撑体、抛光磨头主体以及装卡外壳,其中:装卡装置和抛光磨头主体连接,装卡装置和/或抛光磨头主体内设有弹性安装空间,且装卡装置和抛光磨头主体之间通过对应的弹性安装空间设置有弹性支撑体;装卡外壳可拆卸套设于装卡装置和抛光磨头主体上。本发明的抛光磨头,通过对抛光磨头配置有弹性支撑体,以及设计了装卡装置及装卡外壳的结构,可实现抛光磨头的可拆卸安装,以使得便于更换相应的部件,部件重复使用,此外,配置的支撑体还可以使得具有一定的缓冲,以使得在实际应用场景中通过弹性抛光能实现更好的抛光效果。
申请人信息
- 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址:130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 发明人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 抛光磨头、抛光与原位检测装置及抛光加工方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410150750.0 |
| 申请日 | 2024/2/2 |
| 公告号 | CN117681083A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | B24B13/01 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 发明人 | 王孝坤; 李凌众; 张学军; 李龙响; 罗霄; 白杨; 范学泰 |
| 地址 | 吉林省长春市东南湖大路3888号 |
专利主权项内容
1.一种抛光磨头,其特征在于,包括装卡装置、弹性支撑体、抛光磨头主体以及装卡外壳,其中:所述装卡装置和所述抛光磨头主体连接,所述装卡装置和/或所述抛光磨头主体内设有弹性安装空间,且所述装卡装置和所述抛光磨头主体之间通过对应的弹性安装空间设置有所述弹性支撑体;所述装卡外壳可拆卸套设于所述装卡装置和所述抛光磨头主体上。