← 返回列表
光纤章动耦合方法、系统、设备及存储介质
摘要文本
本发明公开了一种光纤章动耦合方法、系统、设备及存储介质，其中方法包括：S1：获取初始的章动参数，章动参数包括章动半径、章动步长和采样点数；S2：根据章动参数控制快反镜进行一次章动，记录各个采样点的采样功率，并从所有的采样功率中确认最大功率以及最大功率对应的功率变化率；S3：基于预先构建的模糊规则，利用最大功率和功率变化率计算得到新的章动参数；S4：根据新的章动参数控制快反镜再次进行章动，并得到新的最大功率和新的功率变化率；循环执行步骤S3~S4，直至最大功率满足预设要求时为止。本发明通过根据耦合进单模光纤的能量实时调整章动参数，从而优化光纤耦合时的收敛速度和稳定性。
申请人信息
- 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址:130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 发明人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 光纤章动耦合方法、系统、设备及存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410202560.9 |
| 申请日 | 2024/2/23 |
| 公告号 | CN117784333A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G02B6/42 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 发明人 | 刘永凯; 郭烽; 吕福睿; 高世杰; 王建立 |
| 地址 | 吉林省长春市东南湖大路3888号 |
专利主权项内容
1.一种光纤章动耦合方法，其特征在于，其包括：S1：获取初始的章动参数，所述章动参数包括章动半径、章动步长和采样点数；S2：根据所述章动参数控制快反镜进行一次章动，记录各个采样点的采样功率，并从所有的采样功率中确认最大功率以及所述最大功率对应的功率变化率；S3：基于预先构建的模糊规则，利用所述最大功率和所述功率变化率计算得到新的章动参数，所述模糊规则包括所述最大功率、所述功率变化率、所述章动半径、所述章动步长、所述采样点数分别对应的模糊论域，以及所述功率和所述功率变化率与所述章动半径、所述章动步长、所述采样点数之间的隶属度对应规则；S4：根据所述新的章动参数控制快反镜再次进行章动，并得到新的最大功率和新的功率变化率；循环执行步骤S3~S4，直至所述最大功率满足预设要求时为止。 百度搜索马 克 数 据 网