一种CMOS图像传感器辐射响应特性精密校正方法

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一种CMOS图像传感器辐射响应特性精密校正方法。其属于空间光学遥感领域，具体涉及图像传感器的高精度辐射定标以及图像预处理技术。所述方法具体包括：S1、提出CMOS图像传感器辐射响应的精密温漂校正模型，建立图像传感器理论响应值与实际响应值、温度之间的多元非线性函数关系；S2、制定辐射定标温漂测试流程，实现温度与光照强度的多工况遍历；S3、采用步骤S2所述流程进行辐射定标数据采集并实现温漂模型参数测定；S4、将温漂模型参数及图像传感器实际响应值代入精密温漂校正模型，解算得到图像传感器辐射理论响应值，实现图像传感器辐射响应特性的精密校正。