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一种荧光微阵列识别分析方法及系统
摘要文本
一种荧光微阵列识别分析方法及系统，涉及荧光信号图像处理领域，解决了现有技术中微阵列实验产生大量数据即存在校正偏差、没有有效的计算方法来处理和分析这些数据，导致定位不准确、荧光信号提取偏差导致无法准确分析，数据处理和分析的难度大的问题。本发明所述的荧光微阵列识别分析方法，包括以下步骤：步骤一：获取微阵列图像，对微阵列图像进行预处理；步骤二：对预处理的微阵列图像进行标记排序，排序后绘制网格图，基于所述图像处理算法提取网格图中每个阵列的荧光数据，完成识别，所述图像处理算法通过边缘检测和霍夫圆变换来提取荧光数据；步骤三：基于得到的荧光数据并结合数学分析方法，完成分析。还适用于荧光信号图像分析过程中。 来源：马 克 团 队
申请人信息
- 申请人:吉林省星博医疗器械有限公司
- 申请人地址:130102 吉林省长春市北湖科技开发区龙腾路1377号1栋301-305、323、324室
- 发明人: 吉林省星博医疗器械有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种荧光微阵列识别分析方法及系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410146952.8 |
| 申请日 | 2024/2/2 |
| 公告号 | CN117671677A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G06V20/69 |
| 权利人 | 吉林省星博医疗器械有限公司 |
| 发明人 | 李英辉; 端木路阳; 于杰; 王婷婷; 牛超 |
| 地址 | 吉林省长春市北湖科技开发区龙腾路1377号1栋301-305、323、324室 |
专利主权项内容
1.一种荧光微阵列识别分析方法，其特征在于，所述识别分析方法包括：步骤一：获取微阵列图像，对所述微阵列图像进行预处理；步骤二：对所述预处理的微阵列图像进行标记排序，排序后绘制网格图，基于所述图像处理算法提取网格图中每个阵列的荧光数据，完成识别，所述图像处理算法通过边缘检测和霍夫圆变换来提取荧光数据；步骤三：基于得到的荧光数据并结合数学分析方法，完成分析。