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一种空间二维高频天线指向精度地面标定方法、设备及介质
摘要文本
本发明提出一种空间二维高频天线指向精度地面标定方法、设备及介质。属于航天器系统技术领域。所述标定方法分两部分进行;第一部分:在微波暗室环境标定电轴指向与棱镜坐标系关系,在微波暗室,采用平面近场测试系统标定天线电轴矢量和天线棱镜坐标系之间的关系;第二部分:在洁净室标定天线棱镜坐标系和基准棱镜之间的关系,将四台经纬仪分为两组,建立测量站,分别建立驱动器基准棱镜坐标系和天线棱镜坐标系。本发明所述方法可以卸载地球重力对天线变形的影响,以较高的精度标定天线指向误差。
申请人信息
- 申请人:长光卫星技术股份有限公司
- 申请人地址:130102 吉林省长春市北湖科技开发区明溪路1299号
- 发明人: 长光卫星技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种空间二维高频天线指向精度地面标定方法、设备及介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410171939.8 |
| 申请日 | 2024/2/7 |
| 公告号 | CN117723849A |
| 公开日 | 2024/3/19 |
| IPC主分类号 | G01R29/10 |
| 权利人 | 长光卫星技术股份有限公司 |
| 发明人 | 段胜文; 于航; 刘子毅; 陈善搏; 吴简; 安向东; 王春雪; 郑双杰; 张雷 |
| 地址 | 吉林省长春市北湖科技开发区明溪路1299号 |
专利主权项内容
1.一种空间二维高频天线指向精度地面标定方法,其特征在于,所述标定方法分两部分进行;第一部分:在微波暗室环境标定电轴指向与棱镜坐标系关系,在微波暗室,采用平面近场测试系统标定天线电轴矢量和天线棱镜坐标系之间的关系;第二部分:在洁净室标定天线棱镜坐标系和基准棱镜之间的关系,将四台经纬仪分为两组,建立测量站,分别建立驱动器基准棱镜坐标系和天线棱镜坐标系。