一种基于DMD的光学成像系统成像误差的校正方法
摘要文本
一种基于DMD的光学成像系统成像误差的校正方法。属于光学成像技术领域，具体涉及光学系统装调和像差校正技术领域。其解决了目前没有成系统的指导基于DMD的光学成像系统成像误差的校正的方法的问题。所述方法具体为：S1、对投影光路的离焦进行校正；S2、对投影光路的像面倾斜进行校正；S3、对系统光路产生的几何畸变进行校正；S4、校正后残余误差评价。本发明所述方法可以应用在光学系统装调技术领域、像差校正技术领域、成像质量评定技术领域。
申请人信息
- 申请人:长春理工大学
- 申请人地址:130022 吉林省长春市卫星路7089号
- 发明人: 长春理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于DMD的光学成像系统成像误差的校正方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202410056415.4 |
| 申请日 | 2024/1/16 |
| 公告号 | CN117572637B |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | G02B27/00 |
| 权利人 | 长春理工大学 |
| 发明人 | 王超; 王挺; 吴幸锴; 刘壮; 李英超 |
| 地址 | 吉林省长春市卫星路7089号 |
专利主权项内容
1.一种基于DMD的光学成像系统成像误差的校正方法，所述DMD的光学成像系统包括光源(1)、成像物镜(2)、DMD(3)、投影物镜(4)和探测器(5)，其特征在于，所述方法包括如下步骤：S1、对投影光路的离焦进行校正；S2、对投影光路的像面倾斜进行校正；S3、对系统光路产生的几何畸变进行校正；S4、校正后残余误差评价；所述步骤S1具体为：在DMD(3)上加载特定编码，利用成像几何理论分析探测器(5)上采集的图像，计算离焦量得出用于校正离焦的装调回调量并校正离焦; 所述步骤S2具体为：计算探测器(5)整个像面的倾斜角度，按照成像几何理论，得出像面倾斜回调量并校正像面倾斜；所述步骤S3具体为：将矩形角点编码板放置在成像镜头前，测量所述矩形角点编码板在探测器(5)上所成的四边形像，得到未校正的4个角点像素坐标，即左上角、右上角/>、左下角/>和右下角/>，按成像对应关系计算得出将该四边形像校正后得到的矩形像标准尺寸大小，并得到校正后的4个角点像素坐标，即左上角/>、右上角/>、左下角/>和右下角/>，对图像中的任意点/>进行校正，校正后的坐标为/>；所述步骤S4具体为：将所述矩形角点编码板放置在步骤S3时的位置上成像，通过计算像面相邻两点间连线与水平或者竖直平面的角度来评判倾斜误差和系统几何畸变；所述特定编码使用五个像素方块，分别位于DMD(3)像面的四个顶角和中心，分别设定为、、、和。abcdo