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一种闪存颗粒筛选分级方法
摘要文本
本发明公开了一种闪存颗粒筛选分级方法，属于闪存领域，包括步骤：通过在第一预设温度环境下进行数据写入，并结合闪存自身的特性，叠加读干扰/数据保持模拟测试；然后，在第二预设温度环境下进行数据读取；在所述测试的过程中收集颗粒坏块信息及擦写读的时延，用于配合原始比特错误率数据及筛选算法来更精确地把控颗粒的优良分级。本发明可实现对闪存颗粒进行一次筛选测试，即能够进行多级别的颗粒分级；同时还解决了闪存颗粒分级准确性存在误差的问题。。
申请人信息
- 申请人:四川云海芯科微电子科技有限公司
- 申请人地址:644000 四川省宜宾市临港经开区国兴大道沙坪路段9号数据中心801-31号(自主申报告知承诺)
- 发明人: 四川云海芯科微电子科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种闪存颗粒筛选分级方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410233585.5 |
| 申请日 | 2024/3/1 |
| 公告号 | CN117809725A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | G11C29/12 |
| 权利人 | 四川云海芯科微电子科技有限公司 |
| 发明人 | 邱杰; 邹飞; 黄泽诚 |
| 地址 | 四川省宜宾市临港经开区国兴大道沙坪路段9号数据中心801-31号(自主申报告知承诺) |
专利主权项内容
1.一种闪存颗粒筛选分级方法，其特征在于，包括以下步骤：通过在第一预设温度环境下进行数据写入，并结合闪存自身的特性，叠加读干扰/数据保持模拟测试；然后，在第二预设温度环境下进行数据读取；在所述测试的过程中收集颗粒坏块信息及擦写读的时延，用于配合原始比特错误率数据及筛选算法来更精确地把控颗粒的优良分级。