集成电路的约束验证方法、装置、电子设备、介质及产品

摘要文本

本申请属于集成电路设计技术领域，并且提出了集成电路的约束验证方法、装置、电子设备、介质及产品，所述集成电路的约束验证方法包括：获取待验证电路的设计文件以及约束验证命令；基于所述约束命令，对所述设计文件中的各约束对象的设计约束进行配置，并且将配置得到的约束数据设置为只读状态；在所述约束数据的约束下，根据所述计算命令，对所述设计文件进行验证计算，得到所述待验证电路在设计约束下的验证结果。本申请可以解决多线程调用约束导致计算耗时大、设计效率低的问题，可以实现单线程的约束数据配置，避免多线程计算中频繁访问约束数据且对约束对象层层递归地查询约束的问题，节约计算消耗，提升调用效率，提高验证计算的效率。