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对准标记及图形对准方法

申请号: CN202410001827.8
申请人: 天府兴隆湖实验室
申请日期: 2024/1/2

摘要文本

本申请涉及半导体加工技术领域,具体涉及一种对准标记及图形对准方法。对准标记,包括:对准标记图案,第一标记群,位于对准标记图案的第一方向,第二标记群,位于对准标记图案的第二方向,第三标记群,位于对准标记图案的第三方向,第四标记群,位于对准标记图案的第四方向,第一标记群、第二标记群、第三标记群和第四标记群共同构成环状图案将对准标记图案围在中间,对准标记图案、第一标记群、第二标记群、第三标记群和第四标记群各不相同。通过本申请实施例的对准标记可以快速找到对准标记图案,对准效率得到极大提高。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 对准标记及图形对准方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410001827.8
申请日 2024/1/2
公告号 CN117492336A
公开日 2024/2/2
IPC主分类号 G03F9/00
权利人 天府兴隆湖实验室
发明人 罗先刚; 刘吉夫; 李伟; 李雄; 张仁彦
地址 四川省成都市天府新区科智路999号

专利主权项内容

1.一种对准标记,其特征在于,包括:对准标记图案,第一标记群,位于所述对准标记图案的第一方向,第二标记群,位于所述对准标记图案的第二方向,第三标记群,位于所述对准标记图案的第三方向,第四标记群,位于所述对准标记图案的第四方向,所述第一标记群、第二标记群、第三标记群和第四标记群共同构成环状图案将所述对准标记图案围在中间,所述对准标记图案、第一标记群、第二标记群、第三标记群和第四标记群各不相同。