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一种基于复合框架的芯片系统级验证方法
摘要文本
本发明公开了一种基于复合框架的芯片系统级验证方法，包括以下步骤：S1：将测试用例写成测试函数；S2：将所有测试函数放置在函数指针数组中；S3：定义一个事件记录器；S4：在事件记录器中添加一个对应测试函数的事件，初始状态为未测试；S5：对芯片进行测试，通过测试函数则将对应事件的状态修改为通过，否则修改为失败；S6：重复S4‑S5直至所有测试函数均进行测试；S7：调用函数从事件记录器中将各个事件的状态情况、芯片的重启次数和中断次数进行收集并打印，结束仿真，本申请将多个用例结合在一起，使用函数指针来减少代码的耦合，并且通过使用事件记录器来支持复杂场景，以及记录各个用例的运行情况，为可能的调试提供足够的信息。 （macrodatas.cn）
申请人信息
- 申请人:成都翌创微电子有限公司
- 申请人地址:610093 四川省成都市高新区高朋大道3号1幢9层901号
- 发明人: 成都翌创微电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种基于复合框架的芯片系统级验证方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410128869.8 |
| 申请日 | 2024/1/31 |
| 公告号 | CN117667748A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | G06F11/36 |
| 权利人 | 成都翌创微电子有限公司 |
| 发明人 | 朱振中; 卢华; 刘瑛 |
| 地址 | 四川省成都市高新区高朋大道3号1幢9层901号 |
专利主权项内容
1.一种基于复合框架的芯片系统级验证方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：在测试平台中设置多个测试用例，并将每个测试用例写成一个测试函数；S2：将所有测试函数放置在一个函数指针数组中；S3：定义一个事件记录器；S4：在事件记录器中添加一个事件，添加的一个事件对应函数指针数组中的一个测试函数，并将添加的事件的初始状态设置为未测试；S5：对芯片进行测试，若芯片通过了S4中添加的事件对应的测试函数，则将添加的事件的状态修改为通过，若芯片未通过S4中添加的事件对应的测试函数，则将添加的事件的状态修改为失败；S6：判断是否所有测试函数均进行了测试，是，则进入下一步骤，否，则返回S4；S7：调用函数从事件记录器中将各个事件的状态情况、芯片的重启次数和中断次数进行收集，然后传递到测试平台中进行打印，并通知测试平台结束仿真。