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一种曲面随形电阻阻值校正方法

申请号: CN202410220330.5
申请人: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
申请日期: 2024/2/28

摘要文本

本发明公开了一种曲面随形电阻阻值校正方法,包括:S1:选定制备方法并设定工艺参数,根据选定的制备方法和工艺参数,设计平面尺寸获得方阻平面尺寸的参数;S2:根据当前模型的三维曲面的指定位置,利用壳建模的方式,设计曲面随形电阻形状特征,获得对应的曲面方程;S3:根据曲面方程计算曲面随形电阻长宽比,获得长宽比的积分形式;S4:利用平面膜状电阻的阻值计算方式,计算曲面随形电阻的阻值。S5:将计算得到的曲面随形电阻的阻值与目标阻值进行对比,基于设定的差异阈值,对曲面随形电阻形状特征进行修正。本发明相较于传统试阻方式,实现了准确、高效、普适地对基于给定阻值的任意曲面随形电阻形状特征的设计。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种曲面随形电阻阻值校正方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410220330.5
申请日 2024/2/28
公告号 CN117787189A
公开日 2024/3/29
IPC主分类号 G06F30/392
权利人 中国电子科技集团公司第二十九研究所
发明人 王天石; 樊勋; 张怡; 刘镜波; 邓超; 曹洪志; 刘正勇; 谷岩峰; 姚钦; 张宇; 张玲; 李鹏; 全旭林; 徐利明; 王庆兵
地址 四川省成都市金牛区营康西路496号

专利主权项内容

1.一种曲面随形电阻阻值校正方法,其特征在于,包括:S1:选定制备方法并设定工艺参数,根据选定的制备方法和工艺参数,设计平面尺寸获得方阻平面尺寸的参数;S2:根据当前模型的三维曲面的指定位置,利用壳建模的方式,设计曲面随形电阻形状特征,获得对应的曲面方程;S3:根据曲面方程计算曲面随形电阻长宽比,获得长宽比的积分形式;S4:基于积分形式的长宽比,利用平面膜状电阻的阻值计算方式,计算曲面随形电阻的阻值。