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退火方法
摘要文本
本发明提供一种退火方法,包括:提供多组测试晶圆,且对多组测试晶圆执行第一时间段的退火工艺;其中,第一时间段小于退火工艺的标准退火时间;分别对各组测试晶圆继续执行不同的第二时间段的退火工艺;对各组测试晶圆分别执行晶圆接受测试;至少根据测试结果和对应的第一时间段及第二时间段构建测试数据库;至少根据测试数据库,确定退火中断的晶圆的二次退火时间,以作为晶圆的退火补偿时间;对晶圆继续执行时长为退火补偿时间的退火工艺。可见,通过构建退火测试结果与退火时间的测试数据库,可据此获取晶圆的退火补偿时间,以执行二次退火工艺,实现对退火中断的晶圆的补救,有效降低了晶圆报废率和经济损失。
申请人信息
- 申请人:合肥晶合集成电路股份有限公司
- 申请人地址:230012 安徽省合肥市新站区合肥综合保税区内西淝河路88号
- 发明人: 合肥晶合集成电路股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 退火方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410231504.8 |
| 申请日 | 2024/3/1 |
| 公告号 | CN117810078A |
| 公开日 | 2024/4/2 |
| IPC主分类号 | H01L21/324 |
| 权利人 | 合肥晶合集成电路股份有限公司 |
| 发明人 | 冉薇; 李维泽; 李泽育; 王子寒 |
| 地址 | 安徽省合肥市新站区合肥综合保税区内西淝河路88号 |
专利主权项内容
1.一种退火方法,用于补救退火中断的晶圆,其特征在于,包括:提供多组测试晶圆,且对所述多组测试晶圆执行第一时间段的退火工艺;其中,所述第一时间段小于所述退火工艺的标准退火时间;分别对各组所述测试晶圆继续执行不同的第二时间段的所述退火工艺;对各组所述测试晶圆分别执行晶圆接受测试;至少根据测试结果和对应的所述第一时间段及所述第二时间段构建测试数据库;至少根据所述测试数据库,确定退火中断的所述晶圆的二次退火时间,以作为所述晶圆的退火补偿时间;对所述晶圆继续执行时长为所述退火补偿时间的退火工艺。 更多数据:搜索马克数据网来源:www.macrodatas.cn