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晶圆金属元素分析方法及分析系统

申请号: CN202410101481.9
申请人: 合肥晶合集成电路股份有限公司
申请日期: 2024/1/25

摘要文本

本发明提供一种晶圆金属元素分析方法及分析系统,晶圆金属元素分析方法包括:刻蚀晶圆表面的硅化物;通过承接台承接所述晶圆;通过旋转轴驱动所述承接台转动;通过扫描管于所述晶圆表面牵引提取液运动,以收集金属离子溶液;改变所述旋转轴于所述承接台上的位置,以使得所述扫描管进行不同区域扫描;以及进行所述提取液的金属元素浓度检测,以确认所述晶圆污染源位置。本发明可准确收集缺陷区域金属污染的液滴,实现精准检测浓度,确定分布范围。

专利详细信息

项目 内容
专利名称 晶圆金属元素分析方法及分析系统
专利类型 发明申请
申请号 CN202410101481.9
申请日 2024/1/25
公告号 CN117637591A
公开日 2024/3/1
IPC主分类号 H01L21/687
权利人 合肥晶合集成电路股份有限公司
发明人 刘云; 刘波; 余学会; 陆潇波
地址 安徽省合肥市新站区合肥综合保税区内西淝河路88号

专利主权项内容

1.一种晶圆金属元素分析方法,其特征在于,包括:刻蚀晶圆表面的硅化物;通过承接台承接所述晶圆;通过旋转轴驱动所述承接台转动;通过扫描管于所述晶圆表面牵引提取液运动,以收集金属离子溶液;改变所述旋转轴于所述承接台上的位置,以使得所述扫描管进行不同区域扫描;以及进行所述提取液的金属元素浓度检测,以确认所述晶圆污染源位置。