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绝缘子破损检测方法、装置、存储介质和电子设备
摘要文本
本发明公开了一种绝缘子破损检测方法、装置、存储介质和电子设备,绝缘子破损检测方法包括:获取待检测图像;对所述待检测图像进行绝缘子检测,得到绝缘子图像;将绝缘子图像输入至预先训练好的绝缘子图像文本匹配模型,得到绝缘子图像特征;计算绝缘子图像特征与绝缘子破损文本特征的第一相似度和绝缘子图像特征与绝缘子正常文本特征的第二相似度;根据第一相似度和第二相似度确定待检测图片中的绝缘子是否破损。本发明的绝缘子图像文本匹配模型,从文本和图像指导多模态的绝缘子图像文本匹配模型训练,实现高效且精准的绝缘子破损检测功能,并且通过外挂适配模块改进了beit3图像文本匹配网络结构,只训练适配模块,解决了大模型对显存的限制。
申请人信息
- 申请人:合肥中科类脑智能技术有限公司
- 申请人地址:230000 安徽省合肥市高新区望江西路5089号中国科大先进技术研究院一号嵌入式研发楼3楼301室
- 发明人: 合肥中科类脑智能技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 绝缘子破损检测方法、装置、存储介质和电子设备 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410065968.6 |
| 申请日 | 2024/1/17 |
| 公告号 | CN117591901A |
| 公开日 | 2024/2/23 |
| IPC主分类号 | G06F18/22 |
| 权利人 | 合肥中科类脑智能技术有限公司 |
| 发明人 | 赵裕成; 艾坤; 刘海峰 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区望江西路5089号中国科大先进技术研究院一号嵌入式研发楼3楼301室 |
专利主权项内容
1.一种绝缘子破损检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测图像;对所述待检测图像进行绝缘子检测,得到绝缘子图像;将所述绝缘子图像输入至预先训练好的绝缘子图像文本匹配模型,得到绝缘子图像特征;计算所述绝缘子图像特征与绝缘子破损文本特征的第一相似度和所述绝缘子图像特征与绝缘子正常文本特征的第二相似度,其中,所述绝缘子破损文本特征是将破损文本输入至所述绝缘子图像文本匹配模型得到的,所述绝缘子正常文本特征是将正常文本输入至所述绝缘子图像文本匹配模型得到的;根据所述第一相似度和所述第二相似度确定所述待检测图片中的绝缘子是否破损。