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一种SiC MOSFET结温监测电路和方法
摘要文本
本发明揭示了一种SiC MOSFET结温监测电路和方法,所述SiC MOSFET结温监测电路包括RC缓冲电路和信号调理电路;RC缓冲电路用于连接待测功率器件Q1的漏极和源极;RC缓冲电路用于捕获待测功率器件Q1开通时漏‑源电压的变化起始时刻,输出一电压信号,并将电压信号的幅值缩小至信号调理电路的安全阈值内;信号调理电路与RC缓冲电路的输出端相连;信号调理电路和待测功率器件Q1的栅极相连;信号调理电路用于对来自RC缓冲电路的电压信号进行运算处理,并与来自待测功率器件Q1的PWM信号进行逻辑比较,转换出表征待测功率器件Q1结温所需的温度敏感电参数。本发明能够提高温敏电参数的敏感度,且不需要在正常开关周期内添加额外的测试脉冲,实现器件结温的实时在线监测。
申请人信息
- 申请人:合肥安赛思半导体有限公司
- 申请人地址:230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期F1-1701
- 发明人: 合肥安赛思半导体有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种SiC MOSFET结温监测电路和方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410181872.6 |
| 申请日 | 2024/2/19 |
| 公告号 | CN117741388A |
| 公开日 | 2024/3/22 |
| IPC主分类号 | G01R31/26 |
| 权利人 | 合肥安赛思半导体有限公司 |
| 发明人 | 曹文平; 李泽堃; 谭琨; 孙路; 吉兵; 胡存刚 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期F1-1701 |
专利主权项内容
1.一种SiC MOSFET结温监测电路,其特征在于,包括RC缓冲电路和信号调理电路;所述RC缓冲电路用于连接待测功率器件Q1的漏极和源极;所述RC缓冲电路用于捕获所述待测功率器件Q1开通时漏-源电压的变化起始时刻,输出一电压信号,并将所述电压信号的幅值缩小至所述信号调理电路的安全阈值内;所述信号调理电路与所述RC缓冲电路的输出端相连;所述信号调理电路和所述待测功率器件Q1的栅极相连;所述信号调理电路用于对来自所述RC缓冲电路的电压信号进行运算处理,并与来自所述待测功率器件Q1的PWM信号进行逻辑比较,转换出表征所述待测功率器件Q1结温所需的温度敏感电参数。 数据由马 克 团 队整理