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电子显微镜及其图像配准方法和装置、存储介质
摘要文本
本发明公开了一种电子显微镜及其图像配准方法和装置、存储介质,其中,电子显微镜的图像配准方法包括:获取电子显微镜中样品台的标准图像的特征信息;根据标准图像的特征信息确定浮动图像的调整参数并对浮动图像进行调整;根据标准图像和经过调整后的浮动图像建立浮动图像的透视矩阵;根据透视矩阵和调整参数确定浮动图像的变换矩阵;根据变换矩阵对电子显微镜实时获取到的浮动图像进行配准。由此,可以获取到通用的变换矩阵,进而通过变换矩阵对电子显微镜实时获取到的图像进行配准,从而使用户可以快速并准确的获取到所需图像。
申请人信息
- 申请人:国仪量子技术(合肥)股份有限公司
- 申请人地址:230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼A区1-4层
- 发明人: 国仪量子技术(合肥)股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 电子显微镜及其图像配准方法和装置、存储介质 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410125660.6 |
| 申请日 | 2024/1/30 |
| 公告号 | CN117649434A |
| 公开日 | 2024/3/5 |
| IPC主分类号 | G06T7/33 |
| 权利人 | 国仪量子技术(合肥)股份有限公司 |
| 发明人 | 雷静; 张伟; 曹峰; 吴亚; 贺羽 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼A区1-4层 |
专利主权项内容
1.一种电子显微镜的图像配准方法,其特征在于,所述方法包括:获取所述电子显微镜中样品台的标准图像的特征信息;根据所述标准图像的特征信息确定浮动图像的调整参数并对所述浮动图像进行调整;根据所述标准图像和经过调整后的浮动图像建立所述浮动图像的透视矩阵;根据所述透视矩阵和所述调整参数确定所述浮动图像的变换矩阵;根据所述变换矩阵对所述电子显微镜实时获取到的浮动图像进行配准;所述浮动图像的调整参数包括:变换尺度、平移量和旋转角度;所述根据所述透视矩阵和所述调整参数确定所述浮动图像的变换矩阵,包括:根据所述变换尺度确定所述浮动图像的尺度矩阵、根据所述平移量确定所述浮动图像的平移矩阵、以及根据所述旋转角度确定所述浮动图像的旋转矩阵;根据所述尺度矩阵、所述平移矩阵和所述旋转矩阵确定所述浮动图像的仿射矩阵;根据所述透视矩阵和所述仿射矩阵确定所述浮动图像的变换矩阵。