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电源控制装置与电源测试系统
摘要文本
本申请提供一种电源控制装置与电源测试系统。该电源测试系统包括存储器和处理器，处理器用于执行如下步骤：获取至少一种掉电测试设备的至少一种供电路径方式；根据至少一种供电路径方式确定至少一种供电路径接口；根据至少一种供电路径接口确定至少一个电子开关；确定待测试的至少一个目标设备；根据至少一个目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，其中，每条掉电测试指令包括供电路径建立参数和掉电执行参数；根据供电路径建立参数，从至少一种供电路径接口和至少一个电子开关中，建立目标设备对应的目标供电路径；在目标供电路径上，根据掉电执行参数执行掉电操作。该电源测试系统能够显著提高存储设备的掉电测试效率。 （更多数据，详见马克数据网）
申请人信息
- 申请人:合肥兆芯电子有限公司
- 申请人地址:230088 安徽省合肥市高新区创新产业园二期F3楼12-13层
- 发明人: 合肥兆芯电子有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 电源控制装置与电源测试系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410102313.1 |
| 申请日 | 2024/1/25 |
| 公告号 | CN117637013A |
| 公开日 | 2024/3/1 |
| IPC主分类号 | G11C29/56 |
| 权利人 | 合肥兆芯电子有限公司 |
| 发明人 | 王智麟; 刘童金; 朱启傲; 张静; 张体德; 张龙飞 |
| 地址 | 安徽省合肥市高新区创新产业园二期F3楼12-13层 |
专利主权项内容
1.一种电源测试系统，其特征在于，所述系统包括存储器和处理器，所述处理器执行的指令存储在所述存储器中，所述处理器用于执行如下步骤：获取至少一种掉电测试设备的至少一种供电路径方式；根据至少一种所述供电路径方式确定至少一种供电路径接口；根据至少一种所述供电路径接口确定至少一个电子开关，其中，所述电子开关用于控制电能的变化；确定待测试的至少一个目标设备；根据至少一个所述目标设备获取对应的至少一条掉电测试指令，其中，每条所述掉电测试指令包括供电路径建立参数和掉电执行参数；根据所述供电路径建立参数，从至少一种所述供电路径接口和至少一个所述电子开关中，建立所述目标设备对应的目标供电路径；在所述目标供电路径上，根据所述掉电执行参数执行掉电操作，以对所述目标设备进行掉电测试。。关注公众号马 克 数 据 网