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一种短路故障检测电路与检测方法

申请号: CN202410050334.3
申请人: 安徽大学
申请日期: 2024/1/15

摘要文本

本发明提供一种短路故障检测电路与检测方法,检测电路包括:差分信号采集单元,对栅极电阻上的电压信号进行差分采样;短路状态判断单元,其输入端与差分信号采集单元的输出端相连接,用于将检测信号与参考电压进行比较,超过设定阈值时输出故障信号;短路信号保持单元,其输入端与短路状态判断单元的输出端相连,用于对故障信号的保持并传输短路信号给短路处理单元;短路处理单元,其输入端与所述故障保持单元的输出端相连,用于故障信号的处理,判定短路工况。本发明解决了传统SiC MOSFET在高压端口采集故障信号导致的噪声干扰、信号失真以及绝缘耐压和安全等问题,具有检测速度快、精准度高、可靠性高的优点。 马 克 数 据 网

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种短路故障检测电路与检测方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202410050334.3
申请日 2024/1/15
公告号 CN117572288A
公开日 2024/2/20
IPC主分类号 G01R31/52
权利人 安徽大学
发明人 曹文平; 罗盟; 谭琨; 李泽堃; 吉兵; 胡存刚
地址 安徽省合肥市蜀山区肥西路3号

专利主权项内容

1.一种短路故障检测电路,其特征在于,包括:差分信号采集单元、短路状态判断单元、短路信号保持单元和短路处理单元;所述差分信号采集单元用于对晶体管栅极上的电压信号进行差分采集,并将差分采集信号输入至所述短路状态判断单元;所述短路状态判断单元用于将差分采集信号分别与不同的参考电压进行比较,得到不同的比较结果,并将所述比较结果输入至所述短路信号保持单元;所述短路信号保持单元用于保持所述比较结果,并将所述比较结果输入至所述短路处理单元;所述短路处理单元用于根据所述比较结果判断所述晶体管的短路类型并对故障信号进行处理。