一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统
摘要文本
本发明公开了一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，属于芯片测试技术领域，具体包括：在存储芯片上建立一个坐标系，产生逻辑地址(x，y)，使用地址匹配算法将逻辑地址转换为物理地址(u，v)，预先存储所有X/Y地址位对应的物理地址，并存储索引关系；标记初始X和Y地址位为突发地址，并根据初始物理地址设置突发长度N，对Y地址位进行突发操作，保持X地址位的物理地址不变，Y地址位的物理地址自动加1，直到达到N轮次后停止；然后，获取下一个X地址位的物理地址和首个Y地址位的物理地址，作为下一轮的初始突发地址，重复突发操作；本发明实现了对存储芯片逻辑地址准确且快速的绕码。 （更多数据，详见马克数据网）
申请人信息
- 申请人:悦芯科技股份有限公司
- 申请人地址:230601 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
- 发明人: 悦芯科技股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410091075.9 |
| 申请日 | 2024/1/23 |
| 公告号 | CN117612592A |
| 公开日 | 2024/2/27 |
| IPC主分类号 | G11C29/18 |
| 权利人 | 悦芯科技股份有限公司 |
| 发明人 | 钱黄生; 崔荣薰; 刘金海 |
| 地址 | 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层 |
专利主权项内容
1.一种用于存储芯片测试机向量产生器的突发绕码系统，其特征在于，包括：地址采集模块，用于以存储芯片的一端为原点建立正向直角坐标系，在存储芯片中生成若干个逻辑地址(x，y)，所述逻辑地址包括X地址位和Y地址位，所述逻辑地址的初始位为(0，0)，获取存储芯片的地址匹配算法，所述地址匹配算法用于将逻辑地址(x，y)转换为存储芯片实际的物理地址(u，v)；X地址绕码RAM，用于预先存储所有X地址位逻辑地址对应的物理地址，并存储任一X地址位逻辑地址与对应物理地址的索引关系，将X地址位的逻辑地址根据顺序进行排序获得x，x，...x，n为正整数；12nY地址绕码RAM，用于预先存储所有Y地址位逻辑地址对应的物理地址，并存储任一Y地址位逻辑地址与对应物理地址的索引关系，将Y地址位的逻辑地址根据顺序进行排序获得y，y，...y，m为正整数；12mY地址突发模块，用于将首个X地址位和Y地址位标记为初始突发地址，并根据绕码RAM中获取初始突发地址的物理地址(u，v)，设置突发长度N，N≤m，对Y地址位进行突发，每次突发保持X地址位的物理地址u不变，Y地址位的物理地址则自动加1，在Y地址绕码RAM中获取对应的物理地址v，依次生成新的物理地址(u，v)，i∈2, ..., N，直至i=N，则本轮突发停止；根据顺序从X地址绕码RAM中采集下一个X地址位的物理地址和首个Y地址位的物理地址生成(u，v)，作为下一轮的初始突发地址，继续进行下一轮突发，j表示突发轮数，j∈2, ..., n，直至j=n，则存储芯片的全部突发结束。111i1ij1