一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法
摘要文本
本发明涉及电子元器件绝缘测试设备技术领域，具体涉及一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法。底座与顶座之间连接有多个支撑杆，环体设于底座与顶座之间，底座与顶座之间连接有支撑架，环体设于支撑架上，本申请利用可旋转的环体配合移动板、供电板和检测部件，可对多个测试件进行分批次的检测，绝缘异常的测试件能够被释放掉落至第一箱体内由第一箱体进行分类储存，绝缘正常的测试件能够被释放掉落至第二箱体内由第二箱体进行分类储存，对绝缘异常、绝缘正常的测试件进行分类储存，解决了现有技术中对测试件测试完成后根据检测结果进行手动分拣，人为的失误容易影响测试的准确性的问题。。来源：马 克 团 队
申请人信息
- 申请人:山东理工大学
- 申请人地址:255000 山东省淄博市张店区新村西路266号
- 发明人: 山东理工大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种微电子元器件绝缘性能测试设备及测试方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410217753.1 |
| 申请日 | 2024/2/28 |
| 公告号 | CN117772644A |
| 公开日 | 2024/3/29 |
| IPC主分类号 | B07C5/344 |
| 权利人 | 山东理工大学 |
| 发明人 | 高国昊 |
| 地址 | 山东省淄博市张店区新村西路266号 |
专利主权项内容
1.一种微电子元器件绝缘性能测试设备，其特征在于，包括：底座(100)与顶座(101)，所述底座(100)与所述顶座(101)之间连接有多个支撑杆(102)；环体(103)，设于所述底座(100)与顶座(101)之间，所述底座(100)与所述顶座(101)之间连接有支撑架(104)，所述环体(103)设于所述支撑架(104)上；多个存放口(105)，开设于所述环体(103)的外侧壁，所述环体(103)的内侧壁开设有多个与所述存放口(105)连通的检测口(106)，所述顶座(101)的顶部连接有与所述存放口(105)连通的进料管(107)；移动板(108)，设于所述底座(100)的顶部，位于所述环体(103)的左侧，所述移动板(108)上设有与所述存放口(105)适配的供电板(109)；第一箱体(110)和第二箱体(111)，设于所述底座(100)的顶部，所述第一箱体(110)用于存放绝缘异常测试件，所述第二箱体(111)用于存放绝缘正常测试件；检测部件，设于所述环体(103)内，与所述支撑架(104)连接，用于测试测试件绝缘性，所述检测部件能够在移动板(108)向存放口(105)内移动时向检测口(106)内移动；转动部件，设于所述支撑架(104)与所述环体(103)之间，用于转动所述环体(103)，所述转动部件能够在转动环体(103)至预设角度后停止转动所述环体(103)并移动所述移动板(108)；夹持部件，设于所述存放口(105)内，用于固定所述测试件；其中，存放口(105)跟随环体(103)转动至第一预设位置和第三预设位置时能够取消夹持部件对测试件的固定，在存放口(105)转动至第二预设位置且绝缘异常时夹持部件取消对测试件的固定。