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一种碳纳米管制备状态图像处理方法
摘要文本
本发明公开了一种碳纳米管制备状态图像处理方法,属于图像处理技术领域,包括以下步骤:S1、利用扫描电子显微镜扫描碳纳米管样品的表面,得到表面图像,对表面图像进行去噪处理,得到特征图像;S2、确定特征图像中各个像素点的状态特征值,得到特征图像的状态特征矩阵;S3、根据特征图像的状态特征矩阵,对特征图像进行修正,得到标准表面图像,完成图像处理。本发明对扫描的碳纳米管样品的表面图像进行去噪处理后,提取表征整个图像像素点特征的状态特征矩阵,状态特征矩阵经过卷积以及特征计算等得到;本发明还根据状态特征矩阵对图像进行色彩修正,保证碳纳米管样品图像的清晰度,进而提高观察的准确性。
申请人信息
- 申请人:青岛超瑞纳米新材料科技有限公司
- 申请人地址:266000 山东省青岛市莱西市夏格庄镇华丰路东1号
- 发明人: 青岛超瑞纳米新材料科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种碳纳米管制备状态图像处理方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202410128175.4 |
| 申请日 | 2024/1/30 |
| 公告号 | CN117649661A |
| 公开日 | 2024/3/5 |
| IPC主分类号 | G06V20/69 |
| 权利人 | 青岛超瑞纳米新材料科技有限公司 |
| 发明人 | 赵屹坤; 邓炜; 孙宝强; 吴涛 |
| 地址 | 山东省青岛市莱西市夏格庄镇华丰路东1号 |
专利主权项内容
1.一种碳纳米管制备状态图像处理方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、利用扫描电子显微镜扫描碳纳米管样品的表面,得到表面图像,对表面图像进行去噪处理,得到特征图像;S2、确定特征图像中各个像素点的状态特征值,得到特征图像的状态特征矩阵;S3、根据特征图像的状态特征矩阵,对特征图像进行修正,得到标准表面图像,完成图像处理。 该数据由<>整理