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角度依赖成像测量系统及方法
申请人信息
- 申请人:上海复享光学股份有限公司
- 申请人地址:200433 上海市杨浦区国定东路200号4号楼412-1室
- 发明人: 上海复享光学股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 角度依赖成像测量系统及方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811503399.X |
| 申请日 | 2018年12月10日 |
| 公告号 | CN109696298B |
| 公开日 | 2024年1月26日 |
| IPC主分类号 | G01M11/02 |
| 权利人 | 上海复享光学股份有限公司 |
| 发明人 | 赵茂雄; 石磊; 资剑; 殷海玮; 崔靖 |
| 地址 | 上海市杨浦区国定东路200号4号楼412-1室 |
摘要文本
本发明提供了一种角度依赖成像测量系统及方法，角度依赖成像测量系统沿同一光轴依次布置的物镜、光学透镜A、光学透镜C、光学透镜B和成像设备；满足以下条件：0≤d1≤2fA，fA＜D＝d5+d3+d4≤2fB+fA；其中，d1为物镜后的物镜后焦平面M0与光学透镜A之间的距离，fA为光学透镜A的焦距，D为光学透镜A与光学透镜B之间的距离，d5为光学透镜A与光学透镜A后的样品面第一次成像面S1之间的距离，d3为光学透镜A后的样品面第一次成像面S1与光学透镜C之间的距离，d4为光学透镜C与光学透镜B之间的距离，fB为光学透镜B的焦距。可实现实空间分辨和动量空间分辨，表征具有角度依赖材料的光学性质，弥补相应的光学测量技术空缺。
专利主权项内容
1.一种角度依赖成像测量系统，其特征在于：包括物镜、光学透镜A、光学透镜B、成像设备和可切换的光学透镜C，所述物镜、所述光学透镜A、所述光学透镜C、所述光学透镜B和所述成像设备沿同一光轴依次布置，所述成像设备位于所述光学透镜B后的后焦平面第一次成像面M1处或所述光学透镜B后的样品面第二次成像面S2处；角度依赖成像测量系统满足以下条件：0≤d≤2f1Af<D＝d+d+d≤2f+fA534BA其中，d为所述物镜后的物镜后焦平面M0与所述光学透镜A之间的距离，f为所述光学透镜A的焦距，D为所述光学透镜A与所述光学透镜B之间的距离，d为光学透镜A与所述光学透镜A后的样品面第一次成像面S1之间的距离，d为所述光学透镜A后的样品面第一次成像面S1与所述光学透镜C之间的距离，d为所述光学透镜C与所述光学透镜B之间的距离，f为所述光学透镜B的焦距；1A534Bd＝d＝f；15Ad＝f，其中，d为所述光学透镜B与所述成像设备之间的距离。2B2。 （来源 马克数据网）