一种探测芯片分层的测试结构
申请人信息
- 申请人:广东腾昕检测技术有限公司
- 申请人地址:523000 广东省东莞市桥头镇桥头桥龙路482号301室
- 发明人: 广东腾昕检测技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种探测芯片分层的测试结构 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420385353.7 |
| 申请日 | 2024/2/29 |
| 公告号 | CN222087613U |
| 公开日 | 2024/11/29 |
| IPC主分类号 | G01N21/95 |
| 权利人 | 广东腾昕检测技术有限公司 |
| 发明人 | 彭西密; 李明希 |
| 地址 | 广东省东莞市桥头镇桥头桥龙路482号301室 |
摘要文本
广东腾昕检测技术有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种探测芯片分层的测试结构，包括工作台，工作台的上端固定连接有导轨，导轨的外表面滑动连接有滑动座，滑动座的顶端固定连接有显微镜，工作台的上端安装有两组左右对称分布的支撑机构。本实用新型通过在两个支撑机构的作用下，可以安装两个待探测芯片，当一个探测芯片通过显微镜检测完成后，可以直接的对下一个探测芯片进行检测，在检测的过程中，可以对上一个检测完成的探测芯片进行取下，并安装新的未检测的探测芯片，这样可以一直持续的进行探测芯片检测作业，此时，通过合理的运用时间，不仅节省了探测芯片安装和取下的时间，还会提高探测芯片的检测效率。
专利主权项内容
1.一种探测芯片分层的测试结构，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的上端固定连接有导轨(3)，所述导轨(3)的外表面滑动连接有滑动座，所述滑动座的顶端固定连接有显微镜(4)，所述工作台(1)的上端安装有两组左右对称分布的支撑机构，所述支撑机构包括第一固定板(5)、第二固定板(6)、支撑台(12)、第一位移调节组件和第二位移调节组件，每组支撑机构中均包括两个左右分布的第一固定板(5)和第二固定板(6)，位于左端的第一固定板(5)固定安装在工作台(1)的顶端，位于右端的第一固定板(5)滑动连接在工作台(1)的上端，两第二固定板(6)均放置在工作台(1)的上端，两第一固定板(5)相互靠近的一端与两第二固定板(6)相互靠近的一端均固定连接有支撑台(12)，且支撑台(12)分别与第一固定板(5)和第二固定板(6)为一体式结构，前后分布并相邻的两组第一固定板(5)和第二固定板(6)之间分别通过第一位移调节组件连接，所述工作台(1)的上端设置有第二位移调节组件，且第二位移调节组件与位于右端的第一固定板(5)连接，并与右端的第一位移调节组件连接，所述第二位移调节组件用于调节右端第一固定板(5)和第二固定板(6)的位置。