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一种卷装长丝的污丝缺陷检测方法

申请号: CN201810974177.X
申请人: 东华大学
更新日期: 2026-03-08

摘要文本

东华大学取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种卷装长丝的污丝缺陷检测方法,包括:获取卷装长丝的待检测区域的多张采集图像;截取采集图像中与待检测区域内的受检位置对应的目标图像;确定目标图像中的疑似区域,获取疑似区域的灰度特征参数;确定疑似区域对应的不规则几何图形,获取不规则几何图形的几何特征参数;根据灰度特征参数和几何特征参数确定卷装长丝是否存在污丝缺陷。本发明实施例的卷装长丝的污丝缺陷检测方法,能够降低人工目测的错误率,提高检测效率,且能够节约生产成本。

专利主权项内容

1.一种卷装长丝的污丝缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取所述卷装长丝的待检测区域的多张采集图像;截取所述采集图像中与所述待检测区域内的受检位置对应的目标图像;确定所述目标图像中的疑似区域,获取所述疑似区域的灰度特征参数;确定所述疑似区域对应的不规则几何图形,获取所述不规则几何图形的几何特征参数;根据所述灰度特征参数和所述几何特征参数确定所述卷装长丝是否存在污丝缺陷;所述灰度特征参数包括所述疑似区域的灰度平均值、灰度最小值和灰度方差值,所述几何特征参数包括所述不规则几何图形的面积;根据所述灰度特征参数和所述几何特征参数确定所述卷装长丝是否存在污丝缺陷前,还包括:根据所述灰度平均值与所述灰度最小值的差值与第一预设值的比较结果以及所述灰度方差值与第二预设值的比较结果,确定所述不规则几何图形为均匀不规则图形、渐变不规则图形或无缺陷图形;当确定所述不规则几何图形为所述均匀不规则图形时,根据所述灰度特征参数和所述几何特征参数确定所述卷装长丝是否存在污丝缺陷包括:根据所述灰度平均值与所述灰度最小值的差值与所述第一预设值的比较结果以及所述不规则几何图形的面积与第三预设值,确定所述卷装长丝是否存在污丝缺陷;或根据所述灰度平均值与所述灰度最小值的差值与第四预设值的比较结果以及所述不规则几何图形的面积与第五预设值,确定所述卷装长丝是否存在污丝缺陷;或若所述灰度平均值与所述灰度最小值的差值符合第一预设阈值且所述不规则几何图形的面积符合第二预设阈值,根据所述灰度平均值与所述灰度最小值的差值和所述不规则几何图形的面积的乘积是否符合第三预设阈值,确定所述卷装长丝是否存在污丝缺陷;其中,所述第四预设值大于所述第一预设值,所述第五预设值小于所述第三预设值,所述第一预设阈值为所述第一预设值和所述第四预设值之间的阈值,所述第二预设阈值为所述第三预设值和所述第五预设值之间的阈值;所述受检位置包括所述卷装长丝的第一锥面、第二锥面或圆柱面,获取所述卷装长丝的待检测区域的多张采集图像包括:沿所述卷装长丝的周向分别获取包含所述第一锥面、第二锥面或圆柱面的多张采集图像;截取所述采集图像中与所述待检测区域内的受检位置对应的目标图像包括:获取所述采集图像的复制图像;对所述复制图像进行去噪处理,并利用图像分割算法获取去噪后的所述复制图像内的所述受检位置的边缘线;获取所述边缘线的所有像素点的坐标值;根据所述边缘线的所有像素点的坐标值在所述采集图像中截取所述目标图像;确定所述目标图像中的疑似区域,获取所述疑似区域的灰度特征参数包括:对所述目标图像进行去噪处理;利用边缘检测算法处理去噪后的所述目标图像,确定所述目标图像的所述疑似区域,并得到待分析图像;获取所述待分析图像的一阶灰度直方图,并提取所述灰度特征参数;确定所述疑似区域对应的不规则几何图形,获取所述不规则几何图形的几何特征参数包括:过滤所述待分析图像的背景图案,并得到所述疑似区域对应的所述不规则几何图形;确定所述不规则几何图形的所述几何特征参数。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种卷装长丝的污丝缺陷检测方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201810974177.X
申请日 2018年8月24日
公告号 CN110858395B
公开日 2024年3月26日
IPC主分类号 G06T7/00
权利人 东华大学
发明人 杨崇倡; 肖凌云; 冯培; 张荣根; 宋洪征
地址 上海市松江区松江新城区人民北路2999号