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一种硅光波导端面耦合器

申请号: CN201811331594.9
申请人: 熠谱(上海)半导体制造有限公司
更新日期: 2026-03-08

摘要文本

熠谱(上海)半导体制造有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明涉及一种硅光波导端面耦合器,属于半导体光通信技术领域。该硅光波导端面耦合器,包括芯层光波导、模斑压缩光波导、衬底硅、下包层和上包层,芯层光波导包括依次连接的芯层光波导的反向锥形波导和芯层光波导的直波导,模斑压缩光波导包括依次连接的输入直波导、模斑压缩锤形波导和模斑压缩输出波导。本发明中的硅光波导端面耦合器解决了现有两种应用中的硅光‑光纤耦合器存在的关键问题,具有全面的优良光纤性能、高可靠性以及易于封装的特性。

专利主权项内容

来自:马 克 团 队 。1.一种硅光波导端面耦合器,其特征在于:包括芯层光波导(1)、模斑压缩光波导(2)、衬底硅(3)、下包层(4)和上包层(5),芯层光波导(1)包括依次连接的芯层光波导的反向锥形波导(7)和芯层光波导的直波导(6),模斑压缩光波导(2)包括依次连接的输入直波导(8)、模斑压缩锥形波导(9)和模斑压缩输出波导(10),衬底硅(3)顶面上设有下包层(4),下包层(4)顶面上设有模斑压缩光波导(2),模斑压缩光波导(2)四周被上包层(5)完全覆盖,芯层光波导(1)位于模斑压缩光波导(2)内部且被斑压缩光波导(2)完全包裹,下包层(4)和上包层(5)材料折射率低于模斑压缩光波导(2)材料折射率,模斑压缩光波导(2)材料折射率低于芯层光波导(1)材料折射率,模斑压缩光波导(2)中输入直波导(8)模斑尺寸与光纤输出的光信号光纤模斑尺寸相匹配,模斑压缩光波导(2)中模斑压缩输出波导(10)光模场尺寸与芯层光波导(1)中芯层光波导的反向锥形波导(7)模场尺寸相匹配;在单晶硅晶圆上通过氧化形成SiO下包层(4);在下包层(4)上方沉积一层SiO层或SiON层;在SiO层或SiON层上方再沉积一层光波导层Si或SiN;随后在光波导层Si或SiN上通过光刻和介质波导刻蚀工艺制作出芯层光波导(1);再在芯层光波导(1)上沉积一层SiO层或SiON层并通过反向刻蚀和抛光形成模斑压缩光波导层;然后通过光刻和介质刻蚀技术形成模斑压缩光波导(2);最后在模斑压缩光波导(2)上沉积SiO层作为上包层,抛光后得到光滑的上表面。22222

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种硅光波导端面耦合器
专利类型 发明授权
申请号 CN201811331594.9
申请日 2018年11月9日
公告号 CN109324372B
公开日 2024年2月9日
IPC主分类号 G02B6/26
权利人 熠谱(上海)半导体制造有限公司
发明人 方青; 张志群
地址 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼