平板探测器的漂移校正方法、装置、系统和存储介质

专利主权项内容

1.平板探测器的漂移校正方法，其特征在于，包括：确定平板探测器的当前帧速率值和当前工作温度值(102)；获取所述平板探测器在所述当前帧速率值和所述当前工作温度值时所采集的X射线图像(104)；从漂移模板库中检索出对应于所述当前帧速率值和所述当前工作温度值的漂移模板(106)；基于所述漂移模板对所述X射线图像执行漂移校正(108)；其中，所述平板探测器为C型臂X射线设备中的非晶硒平板探测器或非晶硅平板探测器；该方法还包括：设置工作温度采集值和帧速率采集值(202)；获取当所述平板探测器工作在所述工作温度采集值和所述帧速率采集值时的多张暗场图像(204)；确定所述多张暗场图像的灰度平均图，将所述灰度平均图确定为对应于所述工作温度采集值和所述帧速率采集值的漂移模板(206)；将对应于所述工作温度采集值和所述帧速率采集值的所述漂移模板存储到所述漂移模板库中(208)。