一种纳米粒子粒径分布测试仪及测试方法

专利主权项内容

搜索马 克 数 据 网 。1.一种纳米粒子粒径分布测试仪，其特征在于，所述测试仪包括：激光器、样品舱、单片机、永久磁铁、射频振荡器、射频接收器、聚光镜、光电探测器、信号处理器和计算机；所述样品舱包括透明的舱壁；所述激光器位于所述样品舱的斜上方，所述聚光镜位于所述样品舱的斜下方，且所述激光器发出的激光穿过所述样品舱的舱壁到达所述聚光镜；所述样品舱为透明石英管，所述透明石英管的激光透过率为85％以上，长度为50mm-120mm，外径为4-10mm；所述聚光镜将接收的光信号传输至所述光电探测器，所述光电探测器的输出端与所述信号处理器的第一输入端连接；所述单片机的第一端与所述激光器的控制端连接，用于调节所述激光器的脉冲信号；所述单片机的第二端与所述射频振荡器的控制端连接，用于调节所述射频振荡器的射频信号；所述永久磁铁包括极性相反的第一磁铁和第二磁铁；所述第一磁铁和所述第二磁铁分别位于所述样品舱舱壁的两侧；所述射频振荡器位于所述样品舱的底部；所述射频接收器的感应线圈缠绕固定于所述样品舱的舱壁的外侧；所述射频接收器的输出端与所述信号处理器的第二输入端连接；所述信号处理器的输出端与计算机连接，所述信号处理器用于对接收的所述光电探测器传输的第一电信号和所述射频接收器传输的第二电信号进行调理，调理的过程包括放大、滤波、信号变换；所述计算机用于根据调理后的第一电信号计算纳米粒子的一维尺寸参数，根据调理后的第二电信号计算所述纳米粒子的弛豫时间，根据所述弛豫时间确定所述纳米粒子的多维尺寸参数，根据所述多维尺寸参数对所述纳米粒子的一维尺寸参数进行修正，获得修正后的纳米粒子的一维尺寸参数，进而获得纳米粒子的粒径分布参数；所述测试仪的检测的纳米粒子的粒径范围为1-6000nm。