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一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法

申请号: CN201810945377.2
申请人: 中国科学院上海技术物理研究所
更新日期: 2026-03-08

摘要文本

中国科学院上海技术物理研究所取得“一种透气窗帘布”专利技术,本发明公开了一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法,该发明利用分色片的分光功能,将带有刻线的分划板与激光光纤端面等距离的固定到分色片两侧,通过光纤将延迟回波发生器组件产生的激光经过平行光管发射至被检设备,同时在平行光管焦面放置光纤输出的信标光源作为指示光,来实现快速测量激光测距系统性能。该装置及方法可用于激光测距系统中的激光发散角、光斑能量以及激光测距系统测距能力的检测,还可用于标定被检设备激光收发的光轴偏差。该发明的装置及方法也适用于各种激光测距系统性能的实时标定,也适用于主被动结合的光电系统收发同轴检测等领域,该系统焦面模块固定、定标方法简单、价格低廉。。(来 自 专利查询网)

专利主权项内容

1.一种快速测量激光测距系统性能的装置,包括光纤输出信标光源(1)、分色片(2)、激光能量可控制衰减装置(3)、延时回波发生器组件(4)、衰减装置(5)、照明装置(6)、带有刻线的分划板(7)、探测相机(8)、分光片(9)、平行光管(10)和角反射器(12),其特征在于:光纤输出信标光源(1)的光纤端面、延时回波发生器组件(4)出射光纤端面、带有刻线的分划板(7)均放置于平行光管(10)的焦面处,首先开启光纤输出信标光源(1),信标光源通过分色片(2)和分光片(9)后经平行光管(10)准直输出,输出光瞄准被测激光测距系统;被测激光测距系统利用瞄准装置对准光纤输出信标光源(1),开启被测激光测距系统中激光发射模块的激光,该激光经过平行光管(10)会聚于带有刻线的分划板(7)上,开启照明装置(6)照亮带有刻线的分划板(7)的十字丝,利用衰减装置(5)来实现能量的连续可调将激光能量控制在合适强度,通过探测相机(8)观察带有刻线的分划板(7)上的激光光斑大小,该激光光斑的大小与平行光管(10)焦距的比值即被测激光测距系统的激光发散角;利用延时回波发生器组件(4)采集带有刻线的分划板(7)上散射激光脉冲信号,通过脉冲信号产生的延时回波经延时回波发生器组件(4)出射光纤端面发射,经过平行光管(10)准直输出,通过被测激光测距系统(11)的激光接收模块(11-3)是否探测到信号来判断收发同轴是否保持良好,同时可以通过激光能量可控制衰减装置(3)来实现能量的连续可调进而控制输出信号大小,从而模拟被测激光测距系统对不同距离的测距能力;所述的角反射器(12)放置于被测激光测距系统位置对测量装置进行自检;其中,所述的延时回波发生器组件(4)由高速探测器(4-1)、延迟回波发生器(4-2)和可控制光纤输出激光器(4-3)组成;其中高速探测器(4-1)采用相应波长范围广;延迟回波发生器(4-2)可以进行光束整形和延时脉冲时间,控制光纤输出激光器(4-3)与被测激光测距系统(11)的出射激光的波长、脉冲相匹配。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 一种快速测量激光测距系统性能的装置及方法
专利类型 发明授权
申请号 CN201810945377.2
申请日 2018年8月20日
公告号 CN108693516B
公开日 2024年2月20日
IPC主分类号 G01S7/497
权利人 中国科学院上海技术物理研究所
发明人 何志平; 王天洪; 黄庚华; 吴金才; 舒嵘
地址 上海市虹口区玉田路500号