一种精密测量复合架及测量装置

专利主权项内容

1.一种同时进行CPⅡ和CPⅢ测量的测量装置，其特征在于，包括：精密测量复合架、用于进行CPⅢ测量的基座和棱镜、用于进行CPⅡ测量的GPS天线；所述精密测量复合架包括：架体，其具有中空的内部；所述架体底部设有用于安装进行CPⅢ测量的基座和棱镜的第一安装位，且所述架体内部用于容纳进行CPⅢ测量的棱镜；所述架体顶部设有用于安装进行CPⅡ测量的GPS天线的第二安装位；其中，所述第一安装位为一通孔，所述基座包括插接部，其穿过所述第一安装位后与容纳于所述架体内部的棱镜插接；其中，所述架体侧部设有用于安装对所述GPS天线高度进行测量的量具的第三安装位；其中，所述进行CPⅢ测量的基座和棱镜通过所述第一安装位可拆卸地连接；所述进行CPⅡ测量的GPS天线与所述第二安装位可拆卸地连接；其中，所述基座包括插接部，其穿过所述第一安装位后与容纳于所述架体内部的棱镜插接；其中，所述棱镜与GPS天线所处的平面精度小于0.6mm。