← 返回列表
毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法
申请人信息
- 申请人:同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址:100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 发明人: 同方威视技术股份有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN201811654172.5 |
| 申请日 | 2018年12月29日 |
| 公告号 | CN109633776B |
| 公开日 | 2024年3月12日 |
| IPC主分类号 | G01V8/22 |
| 权利人 | 同方威视技术股份有限公司 |
| 发明人 | 赵自然; 游燕; 李元景; 马旭明; 武剑 |
| 地址 | 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |
摘要文本
同方威视技术股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本公开提供一种毫米波/太赫兹波成像设备及人体或物品检测方法，包括准光学组件、探测器阵列和反射板调节装置，准光学组件用于将被检对象自发辐射或反射回来的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括多个适于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个反射板与被检对象所在视场法向之间角度是不同的，且多个反射板与水平面之间角度是不同的；探测器阵列用于接收来自准光学组件的波束；反射板调节装置包括旋转机构，用于驱动多个反射板在水平方向旋转运动，以使得多个反射板依次对被检对象位于视场不同竖直位置部分自发辐射或反射回来的波束进行反射，从而对视场全面反射，采样密集点集中在视场中间，在视场的大部分区域，采样点分布均匀，插值方便。
专利主权项内容
1.一种毫米波/太赫兹波成像设备，其特征在于，包括：准光学组件、毫米波/太赫兹波探测器阵列和反射板调节装置，所述准光学组件适用于将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波/太赫兹波反射并汇聚至所述毫米波/太赫兹波探测器阵列，并包括多个适用于接收并反射来自被检对象的波束的反射板，多个所述反射板与被检对象所在的视场法向之间的角度是不同的，且多个所述反射板与水平面之间的角度也是不同的；所述毫米波/太赫兹波探测器阵列适用于接收来自所述准光学组件的波束；以及所述反射板调节装置包括旋转机构，所述多个反射板围绕所述旋转机构的旋转轴线间隔排布，所述旋转机构适用于驱动多个所述反射板在水平方向上的旋转运动，以使得多个所述反射板依次对所述被检对象位于所述视场不同竖直位置的部分自发辐射或反射回来的波束进行反射。