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平面光栅测量系统的离线测试系统

申请号: CN202420445375.8
申请人: 北京华卓精科科技股份有限公司
更新日期: 2026-04-22

摘要文本

北京华卓精科科技股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型涉及光栅测量技术领域,提供一种平面光栅测量系统的离线测试系统,包括VPX机箱、核心解算板卡、模拟量输入输出板卡、相位卡以及离线测试台。由于VPX机箱的引入,可以大大提高离线测试系统的各板卡之间的数据传输效率,进而提升测试效率。由于数据在VPX机箱内部进行传输,不易受到外界干扰,具有较高的可靠性。该离线测试系统中,通过模拟量输入输出板卡及相位卡接收相应的数据,可以提高离线测试系统的处理能力和响应速度,降低数据传输成本,还可以通过更换或添加相应的功能板卡,便于对离线测试系统的功能进行扩展或修改,以满足不同的应用需求。不仅如此,还可以便于对离线测试系统进行维护。

专利主权项内容

1.一种平面光栅测量系统的离线测试系统,其特征在于,包括:VPX机箱、核心解算板卡、模拟量输入输出板卡、相位卡以及离线测试台,所述平面光栅测量系统中的平面光栅设置于所述离线测试台上;
所述VPX机箱上配置有多个物理接口,所述多个物理接口分别用于接入所述核心解算板卡、所述模拟量输入输出板卡及所述相位卡;
所述模拟量输入输出板卡用于接收所述平面光栅测量系统中的零位传感器系统输出的模拟信号;
所述相位卡用于接收所述平面光栅测量系统中读数头输出的光信号,并确定所述光信号的相位计数信息;
所述核心解算板卡用于接收所述模拟信号以及所述相位计数信息,确定所述平面光栅测量系统的位移测量信息。

专利申请信息

项目 内容
专利名称 平面光栅测量系统的离线测试系统
专利类型 实用新型
申请号 CN202420445375.8
申请日 2024/3/7
公告号 CN222070081U
公开日 2024/11/26
IPC主分类号 G01M11/00
权利人 北京华卓精科科技股份有限公司
发明人 张翔宇; 蒋晓宁; 金鹏; 董宜坤
地址 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十街19号院2号楼2层(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)