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一种半导体器件测试电路

申请号: CN202420538825.8
申请人: 英诺赛科(珠海)科技有限公司
更新日期: 2026-04-22

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种半导体器件测试电路
专利类型 实用新型
申请号 CN202420538825.8
申请日 2024/3/19
公告号 CN222070760U
公开日 2024/11/26
IPC主分类号 G01R31/26
权利人 英诺赛科(珠海)科技有限公司
发明人 罗契英; 胡孟金; 张丽回; 莫清深
地址 广东省珠海市高新区金园二路39号

摘要文本

英诺赛科(珠海)科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型公开了一种半导体器件测试电路。半导体器件测试电路包括:功率模块、多个电流采样模块、开关模块和处理模块;功率模块的输出端与被测器件的控制端或被测器件的第一端连接;功率模块配置为按照处理模块输出的调节信号产生动态电压至被测器件;电流采样模块与被测器件的控制端或被测器件的第一端连接;电流采样模块配置为采集对应被测器件的漏电流信息;开关模块配置为根据处理模块的使能信号依次导通传输通道,以将漏电流信息依次传输至处理模块。本申请的技术方案实现了对多个被测器件进行漏电流信息采集,实现了对多个被测器件的实时检测,减少了电源和功率模块的数量,降低了成本。 关注公众号

专利主权项内容

1.一种半导体器件测试电路,其特征在于,包括:功率模块、多个电流采样模块、开关模块和处理模块;
所述功率模块的控制端与所述处理模块连接,所述功率模块的输入端连接第一电源,所述功率模块的输出端与被测器件的控制端或所述被测器件的第一端连接,所述被测器件的第二端接地;所述功率模块配置为按照所述处理模块输出的调节信号,并根据所述第一电源产生动态电压至所述被测器件;
所述电流采样模块与所述被测器件一一对应设置,所述电流采样模块与所述被测器件的控制端或所述被测器件的第一端连接;所述电流采样模块配置为采集对应被测器件的漏电流信息;
所述开关模块的使能端与所述处理模块连接,所述开关模块的第一端与所述电流采样模块连接,所述开关模块的第二端与所述处理模块连接;所述开关模块配置为根据所述处理模块的使能信号依次导通所述开关模块的传输通道,以将所述漏电流信息依次传输至所述处理模块。