← 返回列表
一种闪存双通道芯片整板测试装置
申请人信息
- 申请人:广东长兴半导体科技有限公司
- 申请人地址:523000 广东省东莞市松山湖园区科技九路2号2栋101室、201室、301室、501室
- 发明人: 广东长兴半导体科技有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种闪存双通道芯片整板测试装置 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202420453470.2 |
| 申请日 | 2024/3/8 |
| 公告号 | CN222070772U |
| 公开日 | 2024/11/26 |
| IPC主分类号 | G01R31/28 |
| 权利人 | 广东长兴半导体科技有限公司 |
| 发明人 | 张治强; 张茜; 陈宝纯; 卢冠华 |
| 地址 | 广东省东莞市松山湖园区科技九路2号2栋101室、201室、301室、501室 |
摘要文本
广东长兴半导体科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体涉及一种闪存双通道芯片整板测试装置,包括测试机体;所述测试机体设有底座;所述底座设有测试底板;所述测试底板的顶部设有顶针板;所述测试机体设有压板;所述压板与顶针板之间设有待测板;所述待测板放置有多个闪存双通道芯片;所述测试底板设有多个HUB集线器以及多个主控测试芯片;所述主控测试芯片与顶针板接触。本实用新型通过驱动压板向下移动,使得待测板压在顶针板中,从而使得闪存双通道芯片通过顶针板与主控测试芯片实现导通,主控测试芯片将相关的数据通过HUB集线器以及USB接口后传输至计算机,能够同时对多个闪存双通道芯片进行测试,有效地提高了测试效率。
专利主权项内容
1.一种闪存双通道芯片整板测试装置,其特征在于:包括测试机体(11);所述测试机体(11)设有底座(12);所述底座(12)设有测试底板(2);所述测试底板(2)的顶部设有顶针板(3);所述测试机体(11)在顶针板(3)的顶部升降活动设有压板(4);所述压板(4)与顶针板(3)之间设有待测板(5);所述待测板(5)放置有多个闪存双通道芯片(51);
所述测试底板(2)设有多个HUB集线器(6)以及多个主控测试芯片(22);所述主控测试芯片(22)与HUB集线器(6)电性连接;所述主控测试芯片(22)与顶针板(3)接触。