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一种功率半导体器件测试用连接结构及其测试用装置

申请号: CN202420593559.9
申请人: 南通尚阳通集成电路有限公司
更新日期: 2026-04-25

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种功率半导体器件测试用连接结构及其测试用装置
专利类型 实用新型
申请号 CN202420593559.9
申请日 2024/3/26
公告号 CN222280692U
公开日 2024/12/31
IPC主分类号 G01R1/04
权利人 南通尚阳通集成电路有限公司
发明人 葛骥
地址 江苏省南通市崇川区崇川路79号国际青创园1号楼18层

摘要文本

南通尚阳通集成电路有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本申请实施例属于半导体测试技术领域,具体涉及一种功率半导体器件测试用连接结构及其测试用装置。功率半导体器件测试用连接结构包括插件板、控制板、测试座。插件板设置有多个功率器件插座,每个功率器件插座设置有与待测功率半导体器件每个管脚对应的多个引出脚;控制板设置有传输线路、连接座,传输线路有多条,每条传输线路上设置有机械开关,传输线路将不同的引出脚连接至连接座上的接口,不同的功率器件插座的相同引出脚共同连接至连接座的同一接口;测试座的接口与连接座的接口通过传输线路一对一电性连接。本申请实施例提供的功率半导体器件测试用连接结构及其测试用装置,提升了测试数据的准确性。。微信公众号马克 数据网

专利主权项内容

1.一种功率半导体器件测试用连接结构,其特征在于,包括:
插件板,设置有多个用于固定安装待测功率半导体器件的功率器件插座,每个所述功率器件插座设置有与待测功率半导体器件每个管脚对应的多个引出脚;
控制板,设置有传输线路、连接座,所述传输线路有多条,每条所述传输线路上设置有机械开关,并且多条所述传输线路将不同的所述引出脚连接至所述连接座上的接口,不同的所述功率器件插座的相同所述引出脚共同连接至所述连接座的同一接口;
测试座,所述测试座的接口与所述连接座的接口通过所述传输线路一对一电性连接。