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一种多电极陶瓷端子高温测试装置

申请号: CN202323415437.5
申请人: 北京元六鸿远电子科技股份有限公司
更新日期: 2026-04-25

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种多电极陶瓷端子高温测试装置
专利类型 实用新型
申请号 CN202323415437.5
申请日 2023/12/14
公告号 CN222280741U
公开日 2024/12/31
IPC主分类号 G01R31/00
权利人 北京元六鸿远电子科技股份有限公司
发明人 徐延初; 王新; 段磊; 王斗斗
地址 北京市丰台区海鹰路1号院5号楼3层3-2(园区)

摘要文本

北京元六鸿远电子科技股份有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型公开了一种多电极陶瓷端子高温测试装置,涉及电子元器件测试技术领域。该多电极陶瓷端子高温测试装置包括:基板,作为测试装置的支撑底座;立柱固定在基板顶部的一侧;两个锁块间隔设置于立柱上;L型连接块连接有上探卡组件,L型连接块通过第一上下调节机构与两个锁块连接;第一左右调节机构连接于L型连接块与上探卡组件之间;下探卡组件设置于基板上方;第二上下调节机构设置于下探卡组件的底部;第二左右调节机构设置于第二上下调节机构的底部;底板设置于第二左右调节机构的底部,滑轨组件设置于基板上,底板通过滑块滑动连接于滑轨组件上;显微镜组件设置于立柱的顶部;测试平台设置于下探卡组件与上探卡组件之间。

专利主权项内容

1.一种多电极陶瓷端子高温测试装置,其特征在于,包括:
基板,作为所述测试装置的支撑底座;
立柱,立柱沿竖直方向固定在基板顶部的一侧;
两个锁块,两个锁块间隔设置于立柱上,并与立柱固定连接;
L型连接块,所述L型连接块连接有上探卡组件,L型连接块通过第一上下调节机构与两个锁块连接;
第一左右调节机构,第一左右调节机构连接于L型连接块与上探卡组件之间;
下探卡组件,下探卡组件设置于基板上方;
第二上下调节机构,第二上下调节机构设置于下探卡组件的底部,并与下探卡组件连接;
第二左右调节机构,第二左右调节机构设置于第二上下调节机构的底部,并与第二上下调节机构连接;
底板,底板设置于第二左右调节机构的底部,并与第二左右调节机构连接;
滑轨组件,滑轨组件设置于基板上,底板通过滑块滑动连接于滑轨组件上;
显微镜组件,显微镜组件设置于立柱的顶部;
测试平台,所述测试平台设置于下探卡组件与上探卡组件之间,测试平台与底板固定连接。。 ()