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一种功率器件老化测试抽屉单元

申请号: CN202420860491.6
申请人: 无锡众盛禾半导体设备有限公司
更新日期: 2026-04-25

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种功率器件老化测试抽屉单元
专利类型 实用新型
申请号 CN202420860491.6
申请日 2024/4/24
公告号 CN222280763U
公开日 2024/12/31
IPC主分类号 G01R31/00
权利人 无锡众盛禾半导体设备有限公司
发明人 王迪; 谢琳华; 孙凤权
地址 江苏省无锡市锡山区安镇街道先锋中路6号中国电子(无锡)数字芯城3A#-A-6

摘要文本

无锡众盛禾半导体设备有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提出了一种功率器件老化测试抽屉单元,所述功率器件老化测试抽屉单元为双面结构,包括用于装载功率器件的托盘,所述托盘夹设于上盖组件与老化底座之间,所述老化底座与功率器件紧密接触,所述上盖组件用于连接功率器件以及驱动单元。本实用新型通过将功率器件排布于托盘之上,后将托盘置于老化底座以及上盖组件之中,借由老化底座为功率器件提供老化环境,并通过上盖组件为功率器件通电从而实现产品的批量老化测试,具有极高的测试产能;通过在老化底座上所设置的热沉紧贴功率器件,并设置隔热板避免热量逸散从而对线路以及PCB板造成损害。

专利主权项内容

1.一种功率器件老化测试抽屉单元,其特征在于,所述功率器件老化测试抽屉单元为双面结构,包括用于装载功率器件的托盘(2),所述托盘(2)夹设于上盖组件(1)与老化底座(3)之间,所述老化底座(3)与功率器件紧密接触,所述上盖组件(1)用于连接功率器件以及驱动单元。 详见官网:www.