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一种拆卸方便的存储芯片测试设备

申请号: CN202421051568.1
申请人: 南京芯测电子科技有限公司
更新日期: 2026-05-05

专利详细信息

项目 内容
专利名称 一种拆卸方便的存储芯片测试设备
专利类型 实用新型
申请号 CN202421051568.1
申请日 2024/5/14
公告号 CN222244661U
公开日 2024/12/27
IPC主分类号 B25H1/02
权利人 南京芯测电子科技有限公司
发明人 王智慧
地址 江苏省南京市(江苏)自由贸易试验区南京片区团结路99号孵鹰大厦2802室

摘要文本

南京芯测电子科技有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术,本实用新型提供一种拆卸方便的存储芯片测试设备,涉及芯片测试技术领域,包括底板,所述底板的顶端固定安装有机架,机架的内壁设置有测试机构,所述底板的顶端设置有两个限位机构;所述限位机构包括固定板,所述固定板的外表壁设置有第一电动推杆,所述第一电动推杆的输出轴固定安装有移动板,所述移动板的外表壁固定安装有第一电机,所述第一电机的输出轴贯穿移动板的外表壁,并固定安装有第一机壳,当需要对存储芯片进行检测时,先根据存储芯片的大小,开启第一电动推杆,调整限位机构之间的距离,然后再对存储芯片夹紧固定,当需要对存储芯片进行翻转时,可以同时开启两个第一电机,进而能够带动存储芯片进行翻转。

专利主权项内容

关注 1.一种拆卸方便的存储芯片测试设备,其特征在于:包括底板(1),所述底板(1)的顶端固定安装有机架(2),所述机架(2)的内壁设置有测试机构(5),所述底板(1)的顶端贯穿开设有方槽(3),所述底板(1)的顶端设置有两个限位机构(4);
所述限位机构(4)包括固定板(401),所述固定板(401)的外表壁设置有第一电动推杆(402),所述第一电动推杆(402)的输出轴固定安装有移动板(403),所述移动板(403)的外表壁固定安装有第一电机(404),所述第一电机(404)的输出轴贯穿移动板(403)的外表壁,并固定安装有第一机壳(405)。