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测试装置
申请人信息
- 申请人:深圳凯智通微电子技术有限公司
- 申请人地址:518000 广东省深圳市宝安区福永街道稔田社区稔田工业区第14栋第二层
- 发明人: 深圳凯智通微电子技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 测试装置 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 申请号 | CN202323573006.1 |
| 申请日 | 2023/12/26 |
| 公告号 | CN222050341U |
| 公开日 | 2024/11/22 |
| IPC主分类号 | G01R31/00 |
| 权利人 | 深圳凯智通微电子技术有限公司 |
| 发明人 | 段超毅; 周闯 |
| 地址 | 广东省深圳市宝安区福永街道稔田社区稔田工业区第14栋第二层 |
摘要文本
深圳凯智通微电子技术有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本实用新型提出一种测试装置，包括基台、压合组件以及卡合结构，所述基台的台面设有测试工位，用于容置待测产品的测试端；所述压合组件包括可活动地设于所述基台的压合件，所述压合件朝向所述测试工位设有压头，所述压头用于朝向所述测试工位运动，以抵压于所述测试端背离所述测试工位的一侧；所述卡合结构设有两个，两所述卡合结构分设于所述测试工位的两侧，用于分别与所述压合件卡扣连接，以使所述压头压紧于所述测试端。本申请的技术方案，能够提高测试装置的测试精度。
专利主权项内容
1.一种测试装置，其特征在于，包括：
基台，所述基台的台面设有测试工位，用于容置待测产品的测试端；
压合组件，所述压合组件包括可活动地设于所述基台的压合件，所述压合件朝向所述测试工位设有压头，所述压头用于朝向所述测试工位运动，以抵压于所述测试端背离所述测试工位的一侧；以及
卡合结构，所述卡合结构设有两个，两所述卡合结构分设于所述测试工位的两侧，用于分别与所述压合件卡扣连接，以使所述压头压紧于所述测试端。