变栅距光栅记录结构优化设计方法
申请人信息
- 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址:130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 发明人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 变栅距光栅记录结构优化设计方法 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202211033535.X |
| 申请日 | 2022/8/26 |
| 公告号 | CN117687133A |
| 公开日 | 2024/3/12 |
| IPC主分类号 | G02B5/18 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 发明人 | 姜岩秀; 王新宇; 李文昊; 郑钟铭; 迟振东; 王玮 |
| 地址 | 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号 |
摘要文本
本发明提供一种变栅距光栅记录结构优化设计方法,用于对变栅距光栅记录结构进行优化,包括:S1、确定记录光源C的坐标,求解记录光源C到特征点Pi的方向矢量;S2、求解特征点Pi对应的在非球面波记录臂中的入射光线PiQi的方向和光程函数差I;S3、求解特征点Pi对应辅助反射镜上点Qi的坐标,并计算辅助反射镜上Qi点处的法线;S4、通过拟合方法获得辅助反射镜面型信息;S5、分析拟合后的辅助反射镜的残余误差,当离散程度>设定阈值时,重复上述步骤S1‑S4;当离散程度≤设定阈值时,输出设计结果。本发明相较于传统方法可以更快速、准确地实现变栅距光栅记录结构的优化设计。 关注公众号专利查询网
专利主权项内容
1.一种变栅距光栅记录结构优化设计方法,用于对变栅距光栅记录结构进行优化,所述记录结构包括:记录光源C、记录光源D、辅助反射镜;所述记录光源C发出的相干光束直接照射至变栅距光栅基底;所述记录光源D发出的相干光束经过所述辅助反射镜的反射后入射至所述光栅基底;其中,点O为所述光栅基底上的中心点,点P为所述光栅基底上其中一个特征点;点O为所述辅助反射镜上的中心点,点Q为所述辅助反射镜上的反射点;1CP为所述记录光源C到所述P点的光程;DQP为所述记录光源D发出的相干光束经过所述Q点反射到所述P点的光程;CO为所述记录光源C到所述O点的光程;DOO为所述记录光源D发出的相干光束经过所述O点交于所述O点的光程;11记录臂RC为所述记录光源C到所述O点的距离;记录臂RD为所述记录光源D到所述O点的距离;1记录臂RQ为所述O点到所述O点的距离;1记录角度θ为所述RC与所述光栅基底中心处法线的夹角;C记录角度θ为所述RQ与所述光栅基底中心处法线的夹角;D记录角度θ为所述RD与所述辅助反射镜中心处法线的夹角;Q其特征在于,包括以下步骤:预处理步骤S0、在所述光栅基底上采样特征点P,获得每一个所述特征点P对应的光栅栅线函数n以及光栅栅线密度分量n和n;iiixizi计算过程为:所述记录光源D发出的一条光线经过所述点Q反射后交于所述点P,根据光程函数理论,所述P点的光栅栅线函数n为:其中,λ为所述记录光源C和所述记录光源D的波长;x为所述P点的弧矢坐标;pz为所述P点的子午坐标;pn为所述光栅基底栅线分布的展开系数;ij根据所述公式(1)得到所述光栅栅线函数关于P点弧矢坐标x和子午坐标z的偏导数,即所述P点光栅栅线密度的弧矢分量n和子午分量n:ppxz其中,α,β,γ分别表示CP的方向余弦在X,Y,Z方向的分量;CPCPCPα,β,γ分别表示QP的方向余弦在X,Y,Z方向的分量;QPQPQPx,y,z分别表示P点在三维直角坐标系中的坐标;pppδy/δx和δy/δz分别表示光栅基底P点处的基底面型偏导;ppppδn/δx和δn/δz分别表示光程函数关于P点弧矢坐标和子午坐标的偏导数,即光栅栅线密度的弧矢分量n和子午分量n;ppxzS1、确定所述记录光源C的坐标,求解所述记录光源C到所述特征点P的方向矢量;iS2、根据所述公式(1~3)求解所述特征点P对应的在非球面波记录臂中的入射光线PQ的方向和光程函数差I;iiiS3、根据所述入射光线PQ的方向、所述记录光源D的坐标和所述记录臂RD和所述记录臂RQ的长度,求解所述特征点P对应所述辅助反射镜上点Q的坐标,并根据反射规律计算所述辅助反射镜上Q点处的法线;iiiiiS4、根据所述辅助反射镜Q点坐标和法线信息,通过拟合方法获得所述辅助反射镜面型信息;iS5、分析所述拟合后的辅助反射镜的残余误差,当离散程度>设定阈值时,重复上述步骤S1-S4;当离散程度≤设定阈值时,输出设计结果。