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自由曲面光学系统的降敏设计方法

申请号: CN202210801673.1
申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 自由曲面光学系统的降敏设计方法
专利类型 发明申请
申请号 CN202210801673.1
申请日 2022/7/8
公告号 CN117406429A
公开日 2024/1/16
IPC主分类号 G02B27/00
权利人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人 孟庆宇; 秦子长; 戚允升; 任成明
地址 吉林省长春市东南湖大路3888号

摘要文本

微信公众号专利查询网 。本发明提供一种自由曲面光学系统的降敏设计方法,包括以下步骤:S1、根据目标光学系统指标参数要求,对目标光学系统的初始结构参数进行设定,并构建包括像质评价函数和误差敏感度评价函数的多目标遗传算法价值函数。S2、对多目标遗传算法价值函数进行求解,得到最接近目标光学系统指标参数要求的一个光学系统,得到自由曲面光学系统。S3、对自由曲面光学系统的像质和误差敏感度判断阈值进行设定。S4、通过误差敏感度评价函数对自由曲面光学系统的像质和误差敏感度进行优化,直至优化结果满足目标光学系统指标参数要求。本专利量化了光学系统误差敏感度,降低了自由曲面光学系统降敏优化过程中的计算量,提高误差敏感度优化效率。

专利主权项内容

1.一种自由曲面光学系统的降敏设计方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、根据目标光学系统指标参数要求,对所述目标光学系统的初始结构参数进行设定,并构建包括像质评价函数和第一误差敏感度评价函数SEN的多目标遗传算法价值函数;SystemS2、对所述多目标遗传算法价值函数进行求解,得到一组光学系统,从所述一组光学系统中选取最接近所述目标光学系统指标参数要求的一个光学系统,将此光学系统的面型升级为自由曲面,得到自由曲面光学系统;S3、对所述自由曲面光学系统的像质判断阈值RMS WFE和误差敏感度判断阈值SENF进行设定;VVS4、通过第二误差敏感度评价函数SENF对所述自由曲面光学系统的像质和误差敏感度进行评价和优化,直至所述自由曲面光学系统的优化结果满足所述目标光学系统指标参数要求。System