← 返回列表

外延结构层及其制备方法和LED芯片

申请号: CN202210774776.3
申请人: 淮安澳洋顺昌光电技术有限公司
更新日期: 2026-03-09

专利详细信息

项目 内容
专利名称 外延结构层及其制备方法和LED芯片
专利类型 发明授权
申请号 CN202210774776.3
申请日 2022/7/1
公告号 CN115000260B
公开日 2024/1/19
IPC主分类号 H01L33/12
权利人 淮安澳洋顺昌光电技术有限公司
发明人 郭园; 王淑娇; 黄理承; 宋长伟; 吕腾飞; 芦玲
地址 江苏省淮安市清河新区景秀路6号

摘要文本

本发明涉及半导体技术领域,具体而言,涉及一种外延结构层及其制备方法和LED芯片。外延结构层,包括依次设置于衬底之上的缓冲层、N型半导体层、有源层和P型半导体层;缓冲层包括层叠设置的第一缓冲层和第二缓冲层,第一缓冲层靠近衬底;第一缓冲层掺杂有第一碳杂质和第一氢杂质;第二缓冲层掺杂有第二碳杂质和第二氢杂质;第一碳杂质的掺杂浓度大于第一氢杂质的掺杂浓度;第二碳杂质的掺杂浓度小于第一碳杂质的掺杂浓度,第二氢杂质的掺杂浓度小于第一氢杂质的掺杂浓度。本发明的外延结构层可防止Ga空位向有源层扩散,改善晶体质量,提高发光效率。

专利主权项内容

1.外延结构层,其特征在于,包括依次设置于衬底之上的缓冲层、N型半导体层、有源层和P型半导体层;所述缓冲层包括层叠设置的第一缓冲层和第二缓冲层,所述第一缓冲层靠近所述衬底;所述第一缓冲层掺杂有第一碳杂质和第一氢杂质;所述第二缓冲层掺杂有第二碳杂质和第二氢杂质;所述第一碳杂质的掺杂浓度大于所述第一氢杂质的掺杂浓度;所述第二碳杂质的掺杂浓度小于所述第一碳杂质的掺杂浓度,所述第二氢杂质的掺杂浓度小于所述第一氢杂质的掺杂浓度;所述第二氢杂质的掺杂浓度为2E17~2E18atom/m;3所述第一碳杂质的掺杂浓度为2E18~2E19atom/m;3所述第一氢杂质的掺杂浓度为1E18~1E19atom/m;3所述第二碳杂质的掺杂浓度为5E17~5E18atom/m;3所述第一缓冲层的厚度为3~30nm;所述第二缓冲层的厚度为1~4μm;所述第一缓冲层的基质为AlGaN,其中,0<x≤1;x1-x所述第二缓冲层的基质为AlGaN,其中,0≤y<1;y1-y所述衬底为蓝宝石基图形化衬底,所述蓝宝石基图形化衬底上的图形的高度H小于或等于所述第一缓冲层和所述第二缓冲层的厚度之和。