一种存储芯片自身强度的压覆测试机构

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深圳市志忠微电子有限公司取得“一种透气窗帘布”专利技术，本实用新型公开了一种存储芯片自身强度的压覆测试机构，其特征是，包括：基座，其内中空，所述基座固定连接控制显示器，所述控制显示器固定连接电子显微镜，所述基座固定连接对称的安装座；放置框，设置在所述基座的上侧，连接所述基座；推挤板，设置在所述放置框内，所述放置框连接电动推杆，所述电动推杆的推杆穿过所述放置框连接所述推挤板；盖板，匹配所述放置框，所述盖板固定连接转轴，所述转轴转动连接对称的所述安装座。本实用新型涉及测试技术领域，具体地讲，涉及一种存储芯片自身强度的压覆测试机构。本实用新型要解决的技术问题是提供一种存储芯片自身强度的压覆测试机构，有利于实现芯片强度测试以及测试后芯片取出。