自测试电路和集成电路IC设备

专利主权项内容

1.一种自测试电路，其特征在于，所述自测试电路包括：
第一多个模数转换器ADC，被配置为耦合到第一多个传感器中的相应传感器；
第一多路复用器MUX，其中第一MUX的输入端子耦合到第一多个ADC的相应输出端子；
第二MUX，其中第二MUX的输入端子被配置为耦合到第二多个传感器中的相应传感器，其中第二多个传感器中的每个传感器对于第一多个传感器中的相应传感器是冗余传感器；
第二ADC，耦合到第二MUX的输出端子，其中第一MUX和第二MUX受选择信号控制；
第一检查器电路，其中第一检查器电路的第一输入端子耦合到第一MUX的输出端子，并且第一检查器电路的第二输入端子耦合到第二ADC的输出端子，其中第一检查器电路被配置为将第一检查器电路的第一输入端子处的第一数据与第一检查器电路的第二输入端子处的第二数据进行比较；以及
第三多个开关，耦合在第二MUX的输入端子中的相应输入端子与参考电压节点之间。