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一种光模块双闭环验证数据处理方法及相关设备
申请人信息
- 申请人:厦门优迅高速芯片有限公司
- 申请人地址:361008 福建省厦门市软件园二期观日路52号402
- 发明人: 厦门优迅高速芯片有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种光模块双闭环验证数据处理方法及相关设备 |
| 专利类型 | 发明授权 |
| 申请号 | CN202210826335.3 |
| 申请日 | 2022/7/14 |
| 公告号 | CN115435897B |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G01J1/00 |
| 权利人 | 厦门优迅高速芯片有限公司 |
| 发明人 | 郑海江; 陈哲; 高泉川; 黄秋伟 |
| 地址 | 福建省厦门市软件园二期观日路52号402 |
摘要文本
本发明公开了光模块双闭环验证数据处理方法及相关设备，其中方法包括：温度数据处理步骤，分别获取光功率及消光比在温度变化下的数据并进行稳定性计算，得到第一计算结果；双闭环调试数据处理步骤，在预设可调范围和调节步进数据，进行针对消光比和光功率的双向验证计算，得到第二计算结果；失锁数据处理步骤，在多种码型及多种占空比下，获取光模块的失锁数据；评价步骤，根据第一计算结果、第二计算结果和失锁数据，判断光模块双闭环验证结果。通过上述方法能全面覆盖双闭环的工作情况，验证双闭环性能、排查双闭环是否出现失锁的问题，从而达到可靠的双闭环验证的技术效果。
专利主权项内容
1.一种光模块双闭环验证数据处理方法，其特征在于，包括如下步骤：温度数据处理步骤，分别获取光功率及消光比在温度变化下的数据并进行稳定性计算，得到第一计算结果；双闭环调试数据处理步骤，在预设可调范围和调节步进数据，进行针对消光比和光功率的双向验证计算，得到第二计算结果；失锁数据处理步骤，在多种码型及多种占空比下，获取光模块的失锁数据；评价步骤，根据第一计算结果、第二计算结果和失锁数据，判断光模块双闭环验证结果。。该数据由<马克数据网>整理