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基于即插即用张量低秩近似的高光谱异常检测方法和系统
申请人信息
- 申请人:上海大学
- 申请人地址:200444 上海市宝山区上大路99号
- 发明人: 上海大学
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 基于即插即用张量低秩近似的高光谱异常检测方法和系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311444704.3 |
| 申请日 | 2023/11/1 |
| 公告号 | CN117372407A |
| 公开日 | 2024/1/9 |
| IPC主分类号 | G06T7/00 |
| 权利人 | 上海大学 |
| 发明人 | 修贤超; 费士祺; 苗中华 |
| 地址 | 上海市宝山区上大路99号 |
摘要文本
上海大学获取“一种透气窗帘布”专利技术，本发明涉及一种基于即插即用张量低秩近似的高光谱异常检测方法和系统。检测方法包括如下步骤：在数据输入模块中输入被检测图像数据集，并存储于数据库中；提取数据库中的被检测图像数据集，在数据特征提取模块中使用即插即用的张量低秩近似法从所述被检测图像数据集提取数据特征；将所述提取的数据特征输入数据分析模块中，并使用交替方向乘子法进行数据的分析处理；将所述分析处理的结果输入结果分析模块，并在结果分析模块中执行图像的异常分析。检测系统包括数据输入模块、数据特征提取模块、数据分析模块和结果分析模块。本发明针对高光谱异常检测抗噪声较差的问题提出了PnP‑TLRA方法，在背景复杂、噪音干扰的情况下具有较好的检测能力。
专利主权项内容
1.一种基于即插即用张量低秩近似的高光谱异常检测方法，其特征在于，包括如下步骤：在数据输入模块中输入被检测图像数据集，并存储于数据库中；提取数据库中的被检测图像数据集，在数据特征提取模块中使用即插即用的张量低秩近似法从所述被检测图像数据集提取数据特征；将所述提取的数据特征输入数据分析模块中，并使用交替方向乘子法进行数据的分析处理；以及将所述分析处理的结果输入结果分析模块，并在结果分析模块中执行图像的异常分析。