一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统
申请人信息
- 申请人:上海大帜信息技术有限公司
- 申请人地址:200030 上海市徐汇区枫林路420号2层A区
- 发明人: 上海大帜信息技术有限公司
专利详细信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 专利名称 | 一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统 |
| 专利类型 | 发明申请 |
| 申请号 | CN202311769074.7 |
| 申请日 | 2023/12/21 |
| 公告号 | CN117675986A |
| 公开日 | 2024/3/8 |
| IPC主分类号 | H04M1/24 |
| 权利人 | 上海大帜信息技术有限公司 |
| 发明人 | 周洪旋; 张雄; 吴燕 |
| 地址 | 上海市徐汇区枫林路420号2层A区 |
摘要文本
本发明公开了一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统,包括:测试采集模块,对手机主板的运行项目进行测试,并得到测试运行数据;测试分析模块,对项目差值进行比较分析,得到每次的检测结果;测试平台,将多次重复测试的检测通过和检测不通过按照测试顺序进行排列,并获取到持续次数波动比值和中断次数波动比值,计算得到测试稳定值;影响采集模块,获取到测试环境数据、设备数据,并分别进行比较,得到环境设备信号;影响共振模块,获取到检测合格信号或检测不合格信号,进行共振分析,得到影响信号;本发明对测试的环境和设备,与检测结果进行共振分析,判断其外界环境对测试结果的影响,有效保证后续对手机主板质量进行检测的准确性。
专利主权项内容
1.一种用于智能手机主板的测试系统,其特征在于,包括:测试采集模块,对手机主板的运行项目进行测试,并得到测试运行数据;测试运行数据包括:CPU频率值、内存值、存储容量值;测试分析模块,基于测试运行数据,计算分析得到项目差值,并对项目差值进行比较分析,得到每次的检测结果;其中,项目差值包括CPU频率差值、内存差值、存储容量差值;检测结果包括检测通过和检测不通过;测试平台,将多次重复测试的检测通过和检测不通过按照测试顺序进行排列,并获取到持续次数波动比值ZBc和中断次数波动比值ZBz,通过公式,计算得到测试稳定值ZW;其中,a1、a2均为权重系数;若测试稳定值ZW大于等于测试稳定阈值时,则生成测试不稳定信号;若测试稳定值ZW小于测试稳定阈值时,则生成测试稳定信号;影响采集模块,获取到测试环境数据,以及测试设备的设备数据,并分别进行比较,得到环境设备信号;其中,测试环境数据包括环境温度值,设备数据包括设备电流值;环境设备信号包括环境合格信号、环境不合格信号、设备合格信号、设备不合格信号;影响共振模块,获取同一测试次数中检测合格信号或检测不合格信号,以及环境合格信号或环境不合格信号,若同时得到检测合格信号和环境合格信号,或检测不合格信号和环境不合格信号,则生成环境共振信号;若同时得到检测合格信号和设备合格信号,或检测不合格信号和设备不合格信号,则生成设备共振信号;统计在多次重复测试中,出现环境共振信号和设备共振信号的次数,标记为共振影响值ZGy;若共振影响值ZGy大于等于共振影响阈值时,则生成共振影响信号;若共振影响值ZGy小于共振影响阈值时,则生成共振非影响信号。